KEITHLEY 老马的博客

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• 半导体电阻率的多种测量方法应用与注意事项(1)　2009-12-30 13:43
  半导体电阻率的多种测量方法应用与注意事项依据掺杂水平的不同，半导体材料可能有很高的电阻率。有几种因素可能会使测量这些材料电阻率的工作复杂化，其中包括与材料实现良好接触的问题。已经设计出专门的探头来测量半导体晶圆片和...
  

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• 考虑到输入端压降后如何计算低电流测量误差？　2009-12-14 16:22
  安培计可以用电阻为零的理想安培计（IM）和电阻（RM）相串联来表示，如图2-23所示。电流源的戴文宁等效电路为电压源（VS）与源电阻（RS）相串联。当电流源连到安培计的输入端时，其电流比使用理想安培计(RM = 0Ω)时有所降低。这种电流的降低是由安培计的内阻（RM）引起的，此内阻产生了一个附加的电压降，称为输入端压降（...
  

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