KEITHLEY 老马的博客

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• 如何简化IV-CV测试　2010-02-24 16:56
  在半导体工业中，用户对于提高测试效率和产能的需求达到了前所未有的水平。快速变更的技术对测试的复杂性和速度提出了更高需求，其目的是为了增加产品可靠性，缩短产品上市时间。吉时利最新的C-V测试系统满足了这一需求，该系统是同类产品中第一个在紧凑的台式设计中紧密集成了C-V/I-V/脉冲测试功能的系统，无论用户是否具有...
  

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• 如何利用静电屏蔽降低静电干扰　2010-02-09 15:32
  带电物体接近被测电路的输入端时，就会发生静电耦合和干扰。在低阻抗之下，由于电荷迅速消散，所以干扰的影响不明显。然而，高阻材料不允许电荷迅速衰减，就可能产生不稳定的测量结果。由于错误的读数可能由直流或交流静电场引起，所以静电屏蔽有助于尽量降低这种电场的影响。 直流电场可能产生有噪声的读数或无法探测的误差...
  

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