KEITHLEY 老马的博客

文章列表

• 用纳米器件进行电流-电压（I-V）脉冲特征分析 　2010-03-30 11:01
  脉冲I-V测试     在对纳米器件进行电流-电压（I-V）脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流，因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里，低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电导率材料的电阻测量都非常重要。利于研究人员和电子行业测试工程师而...
  

  阅读全文>>
• 单机实现三大基本特征分析功能的吉时利超快C-V测量系统　2010-03-09 17:25
  先进电子测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），今日宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能，实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程，...
  

  阅读全文>>