产业脉动
- 应对测试复杂度飙升，众厂商积极重估传统ICT方案[2008-07-04 16:37:01]
- 虚拟规格驱动PCI Express发展[2008-06-17 10:33:12]
- NI成功主办第五届 “中国PXI技术和应用论坛”[2008-06-12 09:56:09]
- 安捷伦PCI Express 2.0规格认证试验用协议测试卡获得PCI-SIG认证[2008-03-28 10:13:15]
- 跨国机构选用Tektronix设备提供总线测试服务[2008-01-15 11:00:39]
- PCI Express有望扩展在新应用领域的应用[2007-06-04 11:24:58]
- PCI SIG开发商大会成功落幕[2007-05-29 16:41:36]
- 首次移师亚洲，LXI联盟会员大会北京举行[2007-05-23 18:10:16]
- CAN半导体器件的发展现状与趋势[2007-03-22 11:47:48]
- 下一代串行总线技术调试方案[2007-02-26 13:10:46]
- 测试/测量总线与混合系统的混合与匹配[2006-12-14 16:48:50]
- 基于FPGA的低成本PCI Express解决方案[2006-12-11 09:53:37]
设计应用
- 基于CAN总线的GaAs光电阴极制备测控系统[2008-08-27 11:49:26]
- 可以处理6.4Gbps以上数据率的创新型串行总线测试方法[2008-07-23 10:44:20]
- 基于ARM的综合测试仪设计[2008-06-26 15:56:10]
- 海底大地电磁探测仪——海洋油气资源勘探的福音[2008-06-16 15:25:14]
- CAN总线系统测试技术[2008-06-11 18:39:09]
- 用FPGA构建PCI Express端点器件的最佳平台[2008-04-10 13:57:20]
- 基于PXI总线的射频仪器的特点与应用范围浅析[2007-12-05 16:50:18]
- VMM验证方法在AXI总线系统中的实现[2007-06-04 10:29:20]
- PCI EXPRESS兼容性测试简述[2007-05-30 14:08:45]
- VMM验证方法在AXI总线系统中的实现[2007-05-22 14:54:17]
- LXI总线技术特点及其在分布式测试与诊断系统中的应用研究[2007-04-16 17:07:37]
- 优化基于PXI平台的无线测试[2006-10-26 15:56:17]
新品速递
- ADI公司推出最新基于MEMS的振动传感器，有助于保持工厂设备正常运转[2008-06-17 11:34:56]
- Cadence 推出对应OVM的验证IP[2008-06-12 10:11:06]
- 凌华科技推出ExpressCard到PXI扩展系统套件[2008-06-03 15:55:37]
- 泰克在2008年春季英特尔开发人员论坛上演示最新的DDR和PCI Express测试解决方案[2008-04-07 11:53:34]
- 安捷伦新的IO Libraries Suite可简化LXI仪器的搜寻与设定[2008-04-07 10:02:34]
- 泰克全新的进阶软件套件－SerialXpress产品已开始供货[2008-03-28 10:07:38]
- IDT发布首款为通信市场优化的PCIe交换解决放案[2008-01-22 12:15:02]
- IDT发布四款新型PCIe交换解决方案[2007-11-27 16:40:36]
- 美信针对PCIe应用推出多通道热插拔控制器[2007-10-24 11:11:17]
- FlexRay联盟发布一致性测试[2007-04-06 11:18:47]
- IDT推出业界首个PCI Express互连器件方案 [2007-04-02 11:53:55]
- Digi-Key力推Knott PCI Express开发套件[2007-03-23 15:26:34]
基础知识
- 关于网络时代的测试新技术[2007-04-16 17:25:07]
- 解读推出LXI的思路和LXI的特点[2007-04-09 10:55:21]
- 使用LXI加强汽车电子测试 [2007-03-27 12:42:10]
- 建立使用PXI、VXI和LXI的混合型测试系统[2007-03-27 10:05:18]
- LXI帮助提高元器件的可靠性[2007-03-27 09:52:54]
- LXI 1.0 规范简介[2007-03-27 09:45:35]
- LXI 测试系统中IEEE 1588 的应用[2007-03-27 09:38:10]
- LXI：揭开未来测试的面纱[2007-03-26 11:56:42]
- 下一代测试系统：用LXI 拓展视野[2007-03-26 11:49:55]
- NI仪器控制技术可用于任意总线、任意编程语言[2006-10-03 21:49:42]
- I2C总线应用下的EEPROM测试[2006-10-03 19:03:12]
- 基于LXI的仪器实现物理测量的优点[2006-10-03 18:54:46]
友情链接：
