半导体测试-与非网博客

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我们离得很近，又离得很远 2009-11-04 15:41

漂泊在异乡，缺少的除了“曼妮”，还有“富润滋”…… &nbsp...
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扫描测试基本原理 2009-10-28 15:58

注：本文译自一份早期的英文资料，当时的扫描主要应用于嵌入式存储单元的测试。随着技术的发展，现在的存储单元多使用BIST，而当时还是个问题的逻辑单元扫描测试...
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女友逸事——麻将 2009-07-30 11:56

1．看我在电脑上玩麻将，吵着要学。给她讲明游戏规则，让她上手，我在边上指导。可这小迷糊老是把筒和条搞混，于是N回出现如下情形：家里有3、4、5条，打掉...
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我个头是比你小，但我有比你大的地方…… 2009-07-01 13:33

当一回标题党，瓦咔咔…… 生活需要欢笑……
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Jitter Introduce 2009-06-25 17:23

介绍: 这篇文章转自网络，经整理后，现推荐到与非网博客中。其焦点是使用户基本的理解什么是jitter以及jitter的...
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亲历小本——联想S10随记 2009-05-11 13:02

随着3G网络的推出，最近NetBook的广告满天飞，连央视1套的黄金时段都是“神舟小本，人手一本”，挺让人心动的哈，加上女友最近出差较多，觉着这类小本倒是蛮适...
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第六章.AC参数测试（3.2）——创建功能时序 2008-07-19 20:40

创建功能时序要正确创建测试时序，器件规格书中定义的时序参数必须清晰明了。为了缩减测试时间，需要根据器件的时序要求...
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第六章.AC参数测试（3.1）——静态RAM的AC参数 2008-07-19 20:34

静态RAM的AC参数 &nbsp...
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迷失 2008-07-01 19:57

晚上于网络偶遇一高中好友，应邀去踩踩她的博客，拜读之余，甚为感伤。当年，我们都是文学的fans，都写得一手好文，颇有惺惺相惜之意，就差引为知己了；...
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第六章.AC参数测试（2.2）——标准AC参数(2) 2008-06-04 10:14

最小脉宽 Parameter Description Min. Max Units tWL Minimum clock low time 20 nsec tWH Minimum clock high time 25 nsec &nbsp...
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第六章.AC参数测试（2.1）——标准AC参数(1) 2008-05-22 17:55

标准AC参数和标准DC参数一样，也有一些标准的AC参数需要测试，接下来我们就来看看通常需要测试的这些AC参数。建立...
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第六章.AC参数测试（1）——测试类型 2008-05-09 16:54

为了保证器件满足时序规格，我们需要进行AC参数测试，按照规格书设定时序参数和信号格式来进行，通过运行一段功能测试的向量序列实现AC参数的测试...
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第五章.功能测试（9.6）——标准功能测试(4.1)：Z-state Test (2) 2008-04-24 16:15

开漏/开源输出器件规格书会指出是否存在开漏或开源输出的信号管脚，浏览规格书的时候留心这些信息，因为这些输出可能要求特殊考虑或条件。开...
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第五章.功能测试（9.5）——标准功能测试(4)：Z-state Test 2008-04-17 18:41

Z-State测试当器件有双向I/O口或三态输出管脚，且端口作为非输出使用时，输出缓冲（buffers）则必须处于高阻状态。我们知道逻辑状态由功能测...
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第五章.功能测试（9.4）——标准功能测试(3.1)：VOL/IOL VOH/IOH Test (2) 2008-04-07 18:09

输出负载（补充）现在主流的测试机台都会配置可编程的输出电流负载，但如果碰到没有此类配置的较老的测试机呢？也有办法，我们可以在外围电路上通...
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