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半导体测试

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第一章.认识半导体和测试设备(6)  2007-06-24 19:26

六.测试负载板(LoadBoard)

  

 

       测试负载板是一种连接测试设备的测试头和被测器件物理和电路接口,被固定在针测台(Probe)、机械手(Handler)或者其他测试硬件上,其上的布线连接测试机台内部信号测试卡的探针和被测器件的管脚。

       CP测试中,负载板连接ProbeCard;在手工测试中,我们将Socket固定在负载板上;而在FT的生产测试中,我们将其连接到Handler. 因为测试机在物理和电气上需要与多种类型的设备连接、锁定,因而Loadboard的类型和款式也是多种多样。

       测试高速或者大功率的器件需要定制的Loadboard,为保证信号完整性,这种高性能的定制电路板必须完成阻抗匹配——这对于布局、布线及线长、线宽等都有特殊要求,因此通常需要数月的时间设计制作,并且价格非常昂贵。  

 

七.探针卡(ProbeCard

  

       探针卡在CP测试用于连接测试机电路和Die上的Pad,通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加到Loadboard上。

       测试机的信号通过弹簧针(pogo pins)连接到ProbeCard底部的Pad上,再由ProbeCard上的布线通往被测的Die上。

      

 
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