半导体测试

第五章.功能测试（7）——Gross Functional Test and Equation Based Timing　 2008-01-29 00:22

总功能测试（Gross Function Test）
    总功能测试指使用最宽松的条件去运行的功能测试，频率、时序、电压、电流负载等条件都被放宽，也成为基础功能测试（Basic Function test）或摆动测试（Wiggle Test）。 

实施理由
    总功能测试相当于功能测试的前提测试，它检验器件是否能够进行功能测试，通俗地讲，就是器件能否“动”起来。当测试程序基本建立，常用总功能测试的相关条件验证全部向量集所需测试的功能是否基本正确。总功能测试常在程序中测试流程的前段运行，以保证后面贯穿整个测试程序的功能测试可以正确实施。 

测试方法


                                       图5-8.总功能测试时序

    图5-8显示的是256x4静态RAM总功能测试的时序。此RAM规格书的AC部分规定其工作频率为66MHz，在总功能测试中，测试频率放宽到1MHz，相应放宽的还有输入电平（VIL/VIH）、输出电平（VOL/VOH）以及其他时序参数，包括建立时间、保持时间、何输出延迟。各个信号的时序关系（时间沿位置）最好仍然保持不变。
    器件通过了总功能测试后，会运行更多更严格的测试以确保器件符合其规格书中的全部要求。当多数更严格的测试都是失败的时候，在它们之前按照一定的条件进行总测试也可以较早地发现这些失效，以提高提高测试吞吐量。在生产测试中，总功能测试通常就可以提供有价值的良率信息。


时序变量
    在测试程序开发和调试过程中，功能测试中的时序参数便于修改是非常重要的，因此常用程序变量建立一个等式来代替具体的参数。举个例子，通过简单地改变时钟变量“SCALE”的值，整个程序的时序可以轻易地“收紧”或“放宽”。这一方法也可以用于在不同的测试项之间改变测试频率，比如降低总功能测试的主时钟，或提高时钟以改变器件的最大工作速率。
SCALE = 1;
PERIOD = 150E-9 *  SCALE;       CLKDLY =   0E-9;
CLKWIDTH = 50E-9 * SCALE;       OE_DLY =  10E-9 * SCALE;
OE_WIDTH = 60E-9 * SCALE;       CS_DLY =   5E-9 * SCALE;
CS_WIDTH = 30E-9 * SCALE;       COLDLY =  15E-9 * SCALE;
COLWIDTH = 40E-9 * SCALE;       DATADLY =  7E-9;
DATAWIDTH =25E-9 * SCALE;       READDLY = 10E-9 * SCALE;
READWIDTH = PERIOD /2;          OUT_VALID1 = PERIOD * 0.75;
STROBEWINDOW1 = 10E-9;          OUT_VALID2 = PERIOD * 0.85;
STROBEWINDOW2 = 10E-9;