半导体测试

第五章.功能测试（9.6）——标准功能测试(4.1)：Z-state Test (2)　 2008-04-24 16:15

开漏/开源输出
    器件规格书会指出是否存在开漏或开源输出的信号管脚，浏览规格书的时候留心这些信息，因为这些输出可能要求特殊考虑或条件。开漏输出因为在DUT内部没有上拉电路，不能输出高电平而只能输出低电平（只能吸入电流），所以必须在外围电路上对输出信号进行拉高处理，直接接上拉电阻或者使用动态电流负载控制。

                        图5-20.Open Drain/Source Outputs

    开源输出则刚好相反，它能驱动高电平（输出电流）但对低电平无能为力，因为DUT内部开源电路没有下拉电路，所以必须在外围电路上对输出信号进行拉低处理，直接接下拉电阻或者使用动态电流负载控制。
    运行高速功能测试时，必须给定相关的测试条件，如外围电路上拉或下拉的电阻值，或者动态电流负载提供的电流。开漏输出信号从低到高的转换时间取决于外围电流负载和寄生电容的大小。如果我们选用了较大电阻（电流较小），则输出可能不能足够快地达到它的逻辑电平以通过测试，造成pattern fail.
    这类管脚对测试硬件的变化很敏感，因为寄生电容不同，测试结果在晶圆测试、手动测试以及自动终测等环节可能不尽相同。