为了保证器件满足时序规格，我们需要进行AC参数测试，按照规格书设定时序参数和信号格式来进行，通过运行一段功能测试的向量序列实现AC参数的测试。
测试方法有二：一是在某个或多个功能测试时，将所有的AC时序参数设置为最差情形，和功能测试一并进行。它可以很快地保证器件满足设计规范，但是在有fail出现时无法直观地显示错误的来源或原因。
另一方法则是单独地进行AC测试，逐一测试各个AC参数。比如测试数据总线建立时间（DBST），就将它设置为规格书定义的数值，而将其他参数放宽，运行相应的功能向量，如果测试fail，则我们马上知道是数据总线建立时间导致。若结果pass，下一步则是将DBST放宽，测试另一参数。明显，此方法可以为良率分析提供更多的信息，但是增加了测试时间。
读取&记录 测试
读取和记录是指测量DC和AC参数值并将实测值保存到纸张页面（通过一个打印机）或磁盘文件的一种测试风格。我们可以通过这种类型的测试分析每个器件的精确性能。军品规格器件往往需要这种风格的测试。可以通过测试系统的存储器（datalogger）或系统窗口来报告这方面的资料。
Go-Nogo测试
Go-Nogo测试则和“读取&记录”相反，器件的那些精确测量参数不被记录，而只是为每个参数设定pass或fail的界限。测试通过只是说明器件符合性能要求，但是它距离不合格有多少裕量则没人知道。很多的生产测试都采用Go-Nogo的测试风格，因为它的速度比“读取&记录”快得多。
折中方案
可能器件规格书中的某些要求现有的测试设备无法满足，出现这种情况要么我们采用折中的方案要么选用更合适的测试设备。现在高速器件越来越多，全速测试越来越难以实施，多数情况下我们被迫折中。
以全速测试为例，标准的全速测试使用器件的最高工作频率配以标称的AC参数，但是有时候因为测试系统自身速度限制，无法满足器件速度要求。
折中的一个办法就是采用最差的输入/输出时序参数而将频率降低到测试系统能满足的水平。这样做器件频率虽然有所降低，但一个或多个时序参数设置为最差情形，它们与标称值之间的差值可以变相弥补频率不足缺憾，保证器件在规格书定义的最高频率下运行无误。
另一解决方法则是选择Mux测试，它使DUT运行于测试系统双倍的工作频率下。测试系统的工作频率一般定义为“xx/2*xx MHz”，如50/100MHz。第一个数字“50”指的是标准频率，它表示该测试系统可提供最小20nS的测试周期并且在这一速度下运行所有功能测试。第二个数字“100”指的是测试系统可以提供输入数据到DUT的最快速度，它是通过在一个测试周期内提供两次输入数据并检测两次输出数据实现的，这样DUT就会以2倍的ATE速度运行。Mux测试通常伴随有诸多的限制，如限定的脉冲格式、限定的向量存储序列、限定的输出比较沿位置等。测试速率意味着测试系统的最大速度，数据速率意味着器件运行的速度。
必要的时候（如出于成本考虑），采用折中的测试方法尽可能地保证器件满足设计规格是测试工程师的职责。当折中的方法看似不可行时，与器件的设计人员沟通，讨论出现的问题，他们也许知道解决方案。请谨慎使用任何折中测试，务必经过设计人员或相关人员确认该方法是否能保证器件被有效测试。
;){kind=link}