半导体测试

 

                                                        图6-1. Setup Time

       建立时间指的是在参考信号达到一定电压点（即参考信号使能）前，数据准备好能保证被正确识别所需的最小时间。例如图6-1中，DataIn数据对WE信号的建立时间，参考WE信号到达1.5V电压点进行测量。
    l         目的：保证输入数据在参考信号有效前的最少时间里可以达到被正确读取（read or latched）的状态。
    l         只与输入信号有关。
    l         建立时间可以为负数（发生在参考信号之后）。

 
                                                图6-2.Hold Time

       保持时间指的是参考信号到达一定电压点（使能）后，为了保证读取无误，数据保持当前状态所必需持续的最小时间。例如图6-2中，DataIn数据对WE信号的保持时间，参考WE信号到达1.5V电压点进行测量。
    l         目的：保证输入数据在参考信号有效后的最少时间里维持可以被正确读取（read or latched）的状态。
    l         只与输入信号有关。
    l         保持时间可以为负数（发生在参考信号之前）。

                                                 图6-3. Output Propagation Time

       传输延迟指的是一个信号的传输和另一个相关信号的传输之间的时间间隔，测量上以特定电压点（如1.5V）为参考坐标。多数传输延迟测试测量的都是输入信号变化到相应输出信号反应之间的时间间隔，列如图6-3中，显示的是地址线起效的时间点到最慢的数据输出管脚达到1.5V有效电压点这段时间的传输延迟。
    有时两个输出信号之间的传输延迟也要测量，这会要求搜寻这两个信号的相对位置。传输延迟测试也被称为“临界路径测量”。
    l         目的：保证输出数据在参考信号有效后的特定的时间里反应。
    l         只与输出信号有关。
    l         传输延迟只可以为正数（发生在参考信号之后）。