半导体测试

最小脉宽   Parameter Description Min. Max Units tWL Minimum clock low time 20   nsec tWH Minimum clock high time 25   nsec   &nbsp...

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标准AC参数        和标准DC参数一样，也有一些标准的AC参数需要测试，接下来我们就来看看通常需要测试的这些AC参数。  建立...

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       为了保证器件满足时序规格，我们需要进行AC参数测试，按照规格书设定时序参数和信号格式来进行，通过运行一段功能测试的向量序列实现AC参数的测试...

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开漏/开源输出     器件规格书会指出是否存在开漏或开源输出的信号管脚，浏览规格书的时候留心这些信息，因为这些输出可能要求特殊考虑或条件。开...

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Z-State测试     当器件有双向I/O口或三态输出管脚，且端口作为非输出使用时，输出缓冲（buffers）则必须处于高阻状态。我们知道逻辑状态由功能测...

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输出负载（补充）    现在主流的测试机台都会配置可编程的输出电流负载，但如果碰到没有此类配置的较老的测试机呢？也有办法，我们可以在外围电路上通...

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      昨天有朋友在QQ上给我留言，提醒我有网友将我的博客内容整理打包发到其他论坛了。       根据朋友给的连接，找到了业内较知名的某论坛，赫...

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VOL/IOL VOH/IOH功能测试     VOL（输出低电压）代表输出在低状态时一个输出产生的最大电压。     IOL（输出低电流）代表输出在低...

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VIL/VIH     VIL（输入低电平）表示最坏情况下输入端的电压，代表逻辑0。VIH（输入高电平）代表最坏情况下输入端的电压，代表逻辑1。下表是256x4...

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标准功能测试     尽管每款独特的电路设计要求的功能测试条件都不一样，但很多时候我们还是能找到他们的相同之处，比如一些可以通过功能测试去验...

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测试向量     功能测试必须有测试向量，也就是反映器件真值表的图形化文件，这在之前已经有过介绍，这里只说说此例的pattern.如表5-1，钟控反向器的向量文件...

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功能测试       首先我们需要对一个基础的功能测试所涉及的器件规格、测试系统硬件和测试程序之间的关系做一个整体的了解，这里拿一款...

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    这些年身处南方，冬天常和友人感叹好久没有见到雪了，朋友甚者说以后孩子们要看雪可能得去东北了。在我们看来，孩子的世界没有雪花铺就的银装世界，没...

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总功能测试（Gross Function Test）     总功能测试指使用最宽松的条件去运行的功能测试，频率、时序、电压、电流负载等条件都被放宽，也成为基础...

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功能测试参数定义        验证器件的功能是否符合器件规格书通常有两种方法。第一种方法是将所有的输入、输出和时序参数都设置成最差（规格书中会定...

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