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  • 第五章．功能测试（5）——Vector Data 2008-01-07 15:03
    向量数据       测试向量文件包含DUT运行一系列功能的真值表，包括必须施加到DUT输入端的逻辑状态和期望在输出端出现的逻辑状态。向量数据通常包含如下字符...

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  • 第五章．功能测试（4）——Output Loading for AC Test 2008-01-03 17:29
    AC测试的输出负载        器件的规格书可能会标示进行AC时序测试时器件输出管脚上需要施加的电流性负载。这些负载通常是电阻、电...

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  • 第五章．功能测试（3）——输出数据 2007-12-23 20:41
    输出数据        输出部分的测试由以下组合：             &nbsp...

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  • 第五章．功能测试（2.测试周期及输入数据） 2007-12-17 11:32
    测试周期        测试周期（test cycle或test period）是基于器件测试过程中的工作频率而定义的每单元测试向量所持续的时间，其公...

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  • 第五章．功能测试（1.基础术语） 2007-12-09 19:23
    摘要：       本章节包含以下内容，          功能测试简介      &n...

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  • 第四章.DC参数测试（12）- IOS test 2007-11-20 18:59
      输出短路电流（output short circuit current）        输出短路电流（IOS），顾名思义，就是输出端口处于短路状态时的电流。下面是一款器件的...

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  • 发个小小牢骚 2007-11-13 05:20
           又是一个通宵的工作，我感觉自己处于崩溃的边缘，但我清楚，明天还会继续。        受半导体产业上升的影响，各家有测试机的公司和单...

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  • 第四章.DC参数测试（11）- High Impedance Currents, IOZH/IOZL 2007-11-11 22:15
    高阻电流（High Impedance Currents, IOZH/IOZL）        IOZL指的是当一个低电平（L）施加在一个处于高阻态（Z）的输出管脚（O）上，管脚上产生的...

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  • GAPT（威宇科技）之祭 2007-10-31 23:56
        今天我例行拜访几家封装测试公司，到了张江科技园，看到那熟悉的蓝色大楼，大门依旧，而顶部的logo已经由“GAPT”更换成了“ASE”，虽然早就...

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  • UMC/HeJian技术论坛 2007-10-31 22:46
    昨天联华电子和和舰科技在上海浦东香格里拉酒店举行了“2007 UMC/ HeJian Technology Workshop”，笔者有幸受邀参加，虽然有点类似于他们的推广会，但是我们还...

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  • 第四章.DC参数测试（10）- Resistive Input & Output Fanout 2007-10-25 14:30
     输入结构－高阻/上拉/下拉        一些特定类型的输入管脚会有上拉、下拉或其他的阻抗性关联电路，器件的规格书中可能会定...

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  • 第四章.DC参数测试（9）- IIL / IIH 2007-10-23 14:59
    入电流（IIL/IIH）测试        IIL是驱动低电平（L）时的输入（I）电流（I），IIH则是驱动高电平（H）时的输入（I）电流（I）。下表是256 x 4静态RAM的...

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  • 第四章.DC参数测试（8）-IDDQ & Dynamic IDD 2007-10-09 19:26
     IDDQ        IDDQ是指当CMOS集成电路中的所有管子都处于静止状态时的电源总电流。IDDQ测试目的是测量逻辑状态验证时的静止（稳定不变）的电流，并与...

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  • 假前随记 2007-09-30 10:42
        呵呵，今天是2007年9月30日，这一天的上海，女足世界杯决赛将打响，特奥会开幕式将举行，外滩上国际旅游节的花车还在巡游……     可是对于我这...

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  • 第四章.DC参数测试（7）-Static IDD 2007-09-28 19:40
    IDD Static Current        静态指器件处于非活动状态，IDD静态电流就是指器件静态时Drain到GND消耗的漏电流。静态电流的测试目的是确保器件低功耗状态...

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