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半导体测试

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  • 桂花飘香，天空，那一抹金黄 2007-09-26 17:51
        已经不知道这是第几个在外地过的中秋了，晚上坐在小区的长椅上，举头仰望天空的那一轮金黄，想着同样沐浴在月辉下的远方的家，思念如虫子般啮噬着我的灵...

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  • 第四章.DC参数测试（6）-Gross IDD 2007-09-26 16:26
    IDD Gross Current     在说Gross IDD之前，我们先说说什么是IDD。IDD的定义有很多，其中包括流过Drain to Drain（CMOS D极）的电流；Drain to G...

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  • 第四章.DC参数测试（5）-VOL/IOL 2007-09-19 10:43
    VOL/IOL        VOL指器件输出逻辑0时输出管脚上需要压制的最高电压（输出电平的最大值）；IOL指器件输出逻辑0时输出管脚上的负载电流（为灌电流）。下...

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  • 第四章.DC参数测试（4）-VOH/IOH 2007-09-14 17:20
    VOH/IOH        VOH指器件输出逻辑1时输出管脚上需要保证的最低电压（输出电平的最小值）；IOH指器件输出逻辑1时输出管脚上的负载电流（为拉电流）。下...

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  • 第四章.DC参数测试（3） 2007-09-11 16:30
     DC测试与隐藏电阻        许多DC测试或验证都是通过驱动电流测量电压或者驱动电压测量电流实现的，其实质是测量电路中硅介质产生的电阻值。当...

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  • 第四章.DC参数测试（2） 2007-09-11 16:26
     Program Flow        测试程序流程中的各个测试项之间的关系对DC测试来说是重要的，很多DC测试要求前提条件，如器件的逻辑...

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  • 第四章.DC参数测试（1） 2007-09-11 16:20
    摘要 本章节我们来说说DC参数测试，大致有以下内容，     n         欧姆定律等基础知识     n         DC测试的各种方...

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  • 第三章.基于PMU的开短路测试 2007-08-28 16:23
    本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试（Open-Short Test），说说测试的目的和方法。  一．测试目的    Open-Short Test也称为C...

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  • 第二章.半导体测试基础（6）——测试开发规则 2007-08-20 09:09
    六.测试开发基本规则       任何工作都有其规则和流程，IC测试也不例外。我们在实际工作中看到，一些简单的错误和低级的问题经常...

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  • 第二章.半导体测试基础（5）——The Pin Electrics 2007-08-15 10:27
    五、管脚电路               管脚电路（The Pin Electronics，也叫PinCard、PE、PEC或I/O Card）...

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  • 第二章.半导体测试基础（4）——PMU 2007-08-08 15:41
    四．PMU       PMU（Precision Measurement Unit，精密测量单元）用于精确的DC参数测量，它能驱动电流进入器件而去量测电压...

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  • 第二章.半导体测试基础（3）——测试系统 2007-07-22 21:00
    三．测试系统    测试系统称为ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式（pattern）生成器和...

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  • pattern格式类型的差异？ 2007-07-21 12:56
    测试程序涉及到pattern，pattern执行的效率关系到测试效率如测试时间等。J750的pattern格式有两种，*.pat 和 *.pat.gz ，说白了，就是后者经过了一道压缩，这样会...

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  • 教会徒弟饿死师傅？ 2007-07-19 00:57
         在工作中，我经常听到的一句话就是：“小心哟，教会徒弟饿死师傅！”颇有相当关心咱生死存亡的意思，也许人家真是好心，但是...

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  • 半导体测试的奥秘 2007-07-16 20:33
    这个系列主要介绍半导体测试相关的概念，知识，大家先看着。 转载请注明作者信息，谢谢 原文本出自internet,版权归原作者所有 2006 龚轶 编译版权所有 目录：1，...

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