半导体测试

文章列表

• 随记　2011-03-28 22:40
          一直想整一个GUI软件去转向量，用户点点鼠标就能完成操作，就像WaveWizard那样。可怜自己搞了N年IC测试，先在要当业余程...
  

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• 修炼初成 (WGL to atp)（2011-6-30 更新）　2011-06-30 17:44
         大半年没更新博客了，这里已经不是长草，恐怕都布满荆棘和灌木了，唉，再一次感慨：How time flies, my face was covered...
  

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• windows下wxPython开发环境安装与配置　2010-07-21 10:06
  最近在玩WxPython，转一篇文章备忘…… 安装文件准备： 安装文件 下载地址 python-2.7.msi http://www.python.org/download/ wxPython2.8-win32-unicode-2.8...
  

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• 扫描测试基本原理　2009-10-28 15:58
  注：本文译自一份早期的英文资料，当时的扫描主要应用于嵌入式存储单元的测试。随着技术的发展，现在的存储单元多使用BIST，而当时还是个问题的逻辑单元扫描测试...
  

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• 第六章.AC参数测试（3.2）——创建功能时序　2008-07-19 20:40
  创建功能时序        要正确创建测试时序，器件规格书中定义的时序参数必须清晰明了。为了缩减测试时间，需要根据器件的时序要求...
  

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• 第六章.AC参数测试（3.1）——静态RAM的AC参数　2008-07-19 20:34
  静态RAM的AC参数                      &nbsp...
  

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• 第六章.AC参数测试（2.2）——标准AC参数(2)　2008-06-04 10:14
  最小脉宽   Parameter Description Min. Max Units tWL Minimum clock low time 20   nsec tWH Minimum clock high time 25   nsec   &nbsp...
  

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• 第六章.AC参数测试（2.1）——标准AC参数(1)　2008-05-22 17:55
  标准AC参数        和标准DC参数一样，也有一些标准的AC参数需要测试，接下来我们就来看看通常需要测试的这些AC参数。  建立...
  

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• 第六章.AC参数测试（1）——测试类型　2008-05-09 16:54
         为了保证器件满足时序规格，我们需要进行AC参数测试，按照规格书设定时序参数和信号格式来进行，通过运行一段功能测试的向量序列实现AC参数的测试...
  

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• 第五章.功能测试（9.6）——标准功能测试(4.1)：Z-state Test (2)　2008-04-24 16:15
  开漏/开源输出     器件规格书会指出是否存在开漏或开源输出的信号管脚，浏览规格书的时候留心这些信息，因为这些输出可能要求特殊考虑或条件。开...
  

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• 第五章.功能测试（9.5）——标准功能测试(4)：Z-state Test　2008-04-17 18:41
  Z-State测试     当器件有双向I/O口或三态输出管脚，且端口作为非输出使用时，输出缓冲（buffers）则必须处于高阻状态。我们知道逻辑状态由功能测...
  

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• 第五章.功能测试（9.3）——标准功能测试(3)：VOL/IOL VOH/IOH Test　2008-03-25 13:19
  VOL/IOL VOH/IOH功能测试     VOL（输出低电压）代表输出在低状态时一个输出产生的最大电压。     IOL（输出低电流）代表输出在低...
  

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• 第五章.功能测试（9.1）——标准功能测试(1)：O/S Test　2008-03-09 17:55
  标准功能测试     尽管每款独特的电路设计要求的功能测试条件都不一样，但很多时候我们还是能找到他们的相同之处，比如一些可以通过功能测试去验...
  

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• 第五章.功能测试（8.2）——功能测试实例　2008-03-02 16:55
  测试向量     功能测试必须有测试向量，也就是反映器件真值表的图形化文件，这在之前已经有过介绍，这里只说说此例的pattern.如表5-1，钟控反向器的向量文件...
  

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• 第五章.功能测试（8.1）——Functionally Testing a Device　2008-02-23 13:39
  功能测试       首先我们需要对一个基础的功能测试所涉及的器件规格、测试系统硬件和测试程序之间的关系做一个整体的了解，这里拿一款...
  

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