半导体测试

文章列表

• 哭笑不得——关于转载　2008-03-25 14:26
        昨天有朋友在QQ上给我留言，提醒我有网友将我的博客内容整理打包发到其他论坛了。       根据朋友给的连接，找到了业内较知名的某论坛，赫...
  

  阅读全文>>
• 第五章.功能测试（9.3）——标准功能测试(3)：VOL/IOL VOH/IOH Test　2008-03-25 13:19
  VOL/IOL VOH/IOH功能测试     VOL（输出低电压）代表输出在低状态时一个输出产生的最大电压。     IOL（输出低电流）代表输出在低...
  

  阅读全文>>
• 第五章.功能测试（9.2）——标准功能测试(2)：VIL/VIH Test　2008-03-21 22:16
  VIL/VIH     VIL（输入低电平）表示最坏情况下输入端的电压，代表逻辑0。VIH（输入高电平）代表最坏情况下输入端的电压，代表逻辑1。下表是256x4...
  

  阅读全文>>
• 第五章.功能测试（9.1）——标准功能测试(1)：O/S Test　2008-03-09 17:55
  标准功能测试     尽管每款独特的电路设计要求的功能测试条件都不一样，但很多时候我们还是能找到他们的相同之处，比如一些可以通过功能测试去验...
  

  阅读全文>>
• 第五章.功能测试（8.2）——功能测试实例　2008-03-02 16:55
  测试向量     功能测试必须有测试向量，也就是反映器件真值表的图形化文件，这在之前已经有过介绍，这里只说说此例的pattern.如表5-1，钟控反向器的向量文件...
  

  阅读全文>>