半导体测试

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• 第五章.功能测试（9.6）——标准功能测试(4.1)：Z-state Test (2)　2008-04-24 16:15
  开漏/开源输出     器件规格书会指出是否存在开漏或开源输出的信号管脚，浏览规格书的时候留心这些信息，因为这些输出可能要求特殊考虑或条件。开...
  

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• 第五章.功能测试（9.5）——标准功能测试(4)：Z-state Test　2008-04-17 18:41
  Z-State测试     当器件有双向I/O口或三态输出管脚，且端口作为非输出使用时，输出缓冲（buffers）则必须处于高阻状态。我们知道逻辑状态由功能测...
  

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• 第五章.功能测试（9.4）——标准功能测试(3.1)：VOL/IOL VOH/IOH Test (2)　2008-04-07 18:09
  输出负载（补充）    现在主流的测试机台都会配置可编程的输出电流负载，但如果碰到没有此类配置的较老的测试机呢？也有办法，我们可以在外围电路上通...
  

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