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扫描测试基本原理
2009-10-28 15:58
注：本文译自一份早期的英文资料，当时的扫描主要应用于嵌入式存储单元的测试。随着技术的发展，现在的存储单元多使用BIST，而当时还是个问题的逻辑单元扫描测试...
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