半导体测试技术交流专栏
承蒙与非网抬爱，将我一些杂乱无章的文字整理成一个专栏，令我甚为惶恐——想我小小一个IC测试工程师笔下皮毛，如何担当得起“专栏”称号？ 然专栏已推出，也就恭敬不如从命，“专栏作家”是不敢妄称的了，就充当一回“写手”吧。
不够资深，不能大话一些高深的东西，也不会指引测试的发展方向，在“专栏”的内容里，首先会介绍一些基础知识，让大家对半导体测试（或者说IC测试）有一个大致的了解；后面会陆续介绍一些具体电路的测试方法，相信大家也还是可以坚持着看一看的；再往后还会多整理一些半导体测试方面的知识和内容，陆续填充到专栏里，希望能对感兴趣的朋友们有所帮助。不求网友们褒扬，只求行家看到不至于讥笑嘲弄，鄙视于我，也就足矣！
集成电路（IC）产业由来已久，一颗芯片的诞生，经历了设计、制造、封装、测试等诸多环节，测试处于整个流程链的后端，控制着产品的质量，关乎产品的性能、品质；同时，测试还起着监控产品制程的作用。伴随着集成电路集成度和复杂度的提高，测试也越来越困难，覆盖率提升越发困难；测试成本也节节上升，新近统计，测试成本已经占到了半导体器件整体成本的1/3。如何“有效”（提升测试覆盖率）而“便宜”（降低测试成本）地进行IC测试，已经是业界热论的话题。不扯远了，就让本序带你走近半导体测试吧！
文章出处：与非网
