提高RF微波测试正确性
秘诀三：瞭解、量测及修正RF 信号路径的特性
没有经过额外的修正，产品的规格最多只能延伸到位于仪器输入和输出接头上的“校准”（calibration plane）而已。若要得到准确又稳定一致的量测结果，以及修正过的DUT 结果，我们建议将校准面往外推，尽可能地靠近DUT。不论路径是被动或主动的，DUT 是位在本端或远端，都有几种方法可以做到。
被动路径的处理方式
元件在整个频宽范围内所有允许的输入功率位准下，都有固定的增益和相位偏移量。然而，沿着被动路径所接出去的每一条接线上可能会有阻抗不匹配的情形，因而造成注入损耗和相位偏移（或延迟）。在高频下，连简单的被动元素也会变成复杂的传输线元素，无法直接将路径上的损耗和相位偏移用简单的代数法相加得出。秘诀：使用VNA 来量测整个相连的路径或分析每一项元素的S 参数特性，并使用向量学来模拟整个路径的总损耗和相位偏移量。这些数值可以储存在系统的PC 中，并且视需要予以套用，以修正量测结果，或者供网路分析仪使用，例如用来即时地调整滤波器和其他变动的DUT。
修正主动的路径
主动元件的效能会随着输入功率的改变而不同，若要提高量测的准确度，其做法会取决于元件是在其线性或非线性的响应区内工作。如果一个主动元件（如放大器）在校准和量测作业期间，是在远低于其1 dB 压缩点的线性区内工作，则可以在该区内的任何功率位准下进行准确的修正。
秘诀：如果主动元件是在其非线性的响应区内工作，则校准时也必须使用量测用的功率位准，以确保能够做准确的修正。如果需要在非线性模式下，于多个功率位准进行量测，那么也必须在每一个位准下分别进行校准，并储存起来供日后使用。
秘诀：在DUT 的频率范围内，检查主动元件的频率响应。同样地，您应该在特定的功率位准下量测整个路径，或是分析每一个介面的S 参数特性，并使用向量学，产生一个可以在事后套用或即时套用的模型。
秘诀：为了简化量测和修正RF 信号路径特性的作业，有些系统开发人员会尽可能少用主动元件，这样做可以减少校准的工夫，以及在非线性模式工作时，因功率位准改变而造成误差的机会。
DUT 的距离－近或远
不论DUT 是固定在测试系统的夹具上，或是位在几码外的测试室中，要进行准确的修正有时相当困难。固定在夹具上的量测极具挑战性，因为路径通常会包括从同轴缆线转换到微带线式（microstripbased）的短路、开路和负载上。秘诀：如果无法使用高品质的微带线组件的话，就需要使用网路分析仪来量测夹具、模拟阻抗、以及将那些效应从量测结果中消除。当DUT 位在远端时，主要的问题出在缆线距离长所造成的路径衰减，以及因温度变化和缆线弯曲所造成的路径差异。秘诀：若可能的话，应量测仪器和DUT之间的整个路径，或是量测路径上每一个相关的元素，并使用向量学将其复数响应值合起来，以分析出路径衰减的程度。
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