8.1 七号信令测试仪下位机实现及源码分析续1
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SCT |
T1/E1 |
BIT6 |
BIT5 |
BIT4 |
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DS2152 |
0 |
0 |
0 |
0 |
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DS21352 |
0 |
0 |
0 |
1 |
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DS21552 |
0 |
0 |
1 |
0 |
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DS2154 |
1 |
0 |
0 |
0 |
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DS21354 |
1 |
0 |
0 |
1 |
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DS21354 |
1 |
0 |
1 |
0 |
IDR的下四个位是用来显示芯片版本。测试寄存器的内存地址为为09h,15h ,19h,十六进数字是厂家测试ds21354/ds21354 。上电后,测试寄存器应该被置为00h,以保证ds21354/ds21354正常运作。TEST3的某几位是用来选择监控模式。请参阅第15.5进一步的细节。
8.1.1.4 上电过程及相关寄存器
系统上电后,因为内部寄存器的内容在上电后是不可预测的,所以电源供应稳定后,ds21354/ds21354应配置所有内部寄存器(包括设置test寄存器为0),LIRST(CCR5.7)应先置0,再置1以使内部接口电路复位(大约需要40ms复位)。最后,在经过了TSYSCLK和RSYSCLK输入稳定后,ESR(CCR6.0和CCR6.1 )先应先置0,再置1.
IDR: DEVICE IDENTIFICATION 寄存器 (Address = 0F Hex)
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BIT名称 |
BIT位 |
描述 |
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T1E1 |
IDR.7 |
传输E1或T1 bit: 0=T1 1=E1 |
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BIT6 |
IDR.6 |
BIT6 |
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BIT5 |
IDR.5 |
BIT5 |
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BIT4 |
IDR.4 |
BIT4 |
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BIT3 |
IDR.3 |
芯片版本号BIT3 |
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BIT2 |
IDR.2 |
芯片版本号BIT2 |
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BIT1 |
IDR.1 |
芯片版本号BIT1 |
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BIT0 |
IDR.0 |
芯片版本号BIT0 |


