PCI Express介绍
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更新于2009-05-26 12:07:18

检验、调试和一致性测试PCI Express设计

随着第一代(Gen1) PCI Express部署的顺利进行,业内已经成功地实现了各种元器件、系统和板卡。现在,市场上提供了拥有PCI Express插槽的主板和笔记本电脑及可以广泛选择的采用这种新型扩展槽的图形处理器单元(GPUs)和网卡。在短短几年内成功地部署Gen1设备在一定程度上可以归功于厂商实验室及PCI-SIG(PCI特殊利益集团)赞助的接插集会(plug fests)对设备测试作出的巨大投入。PCI-SIG已经成功地实现了PCI Express板卡电气机械规范(CEM) Rev1.0a版的一致性和互操作能力测试,多家厂商已经成功地入选SIG集成商清单。在Rev1.0a部署过程中,很明确必需对规范作出部分改动(主要是物理层),以保证不同PCI-E设计之间更加可靠地通信。基本规范和CEM规范Rev1.1现在已经植入这些变动,SIG已经开始在讨论会中根据Rev1.1规范进行测试。PCI-SIG正在审核第二代基本规范和CEM规范及第一个能够通过外设对总线扩容的布线规范。Gen2把基本信令频率提高了一倍,从2.5 Gb/s提高到5 Gb/s,在系统设计中增加电缆则进一步提高了复杂程度。这无疑会给设备的检验和一致性测试带来部分新的挑战。

除了入选集成商清单要求的PCI-SIG合格/不合格指标外,各厂商还必须在许多条件下检验自己的设计。例如,您的设计可能在讨论会上、在测试夹具的电源条件下、在室温中通过了测试,但在温度和电源条件变化时会发生什么情况呢?如果把您的设备与系统中另一个厂商的设备插在一起、另一条总线导致您的设备失效会怎么样呢?

本读物介绍了PCI Express测试的各个方面,包括检验、调试和一致性测试及基本原理、测量技术及保证成功设计所需的工具。不管是已经成功地处理Gen1设备、着手测试Gen2设备,还是刚刚进入PCIExpress领域,本读物都可以帮助您了解PCI Express的结构、规范和测量解决方案。

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