泰瑞达（Teradyne）是全球最大的半导体自动测试设备供应商，也是连接系统和用于汽车行业的测试设备的领先供应商。泰瑞达为广泛的半导体电路提供测试解决方案，覆盖模拟、混合信号、存储器及VLSI器件测试所有领域的测试设备的供应商，测试平台包括 J971、J973、 Integra J750、 IP750、 Catalyst、 Integra FLEX、及Catalyst Tiger，测试产品覆盖半导体芯片如处理器、微控制器、客户特殊逻辑、记忆体、混合讯号IC、及System-on-Chip。下面我们就来看看它的几款比较有名的测试设备。
1.J750
J750是半导体测试设备历史上最成功的机台之一，也是我用得最多的测试机，全球装配量超过2500台，要知道每台售价可是几十万甚至上百万美金哦，呵呵……
低成本高性能并行测试机，采用windows操作系统，人机界面友好、简单；基于板卡的硬件架构，维护性好；配上MSO，基本能满足SoC的测试需求，有着较高的测试性价比。现在泰瑞达已经将其升级,推出了新的产品 —— J750Ex.
• 200 MHz /400 Mbps digital
• Up to 1024 digital pins, 96 device power supplies, and analog test capability
• Deep Vector Memory up to 64 LVM
• Enhanced DFT capability with 196 Gbit scan depth and deep diagnostic capture
• Per-pin test architecture, pattern-controlled instrumentation, and flexible site mapping with no slot boundaries
• IG-XL™ test software for rapid program development that automatically scales to multisite
• Air-cooled, “Zero footprint” tester-in-a-test-head design for minimum floor space
• Low capital cost with J750 Family configurations starting at $99,000
2.Catalyst
第一台也是迄今领先的SoC高端测试机，泰瑞达号称全能的测试仪，全球装配超过1600台。
基于板卡的可配置硬件架构，支持并行测试，Catalyst测试系统提供的全面测试，覆盖广泛的半导体应用产品，包括xDSL、无线/射频、网络应用与电源管理等。与teradyne tiger™测试系统一起，Catalyst家族扩大了其测试范围，能测试更多的管脚和提供千兆赫的测试频率。
- Fully integrated analog and digital instrumentation
- Mixed-signal/SOC digital with data rates to 400 Mbps
- Full Spectrum AC instrumentation
- Background-DSP™ processing - Catalyst's parallel computer architecture reduces overall test time
- IMAGE™ programming system with interactive debug displays and complete test engineering tools for device characterization
- System architecture that accelerates test development and high-volume production for ICs with complex digital, embedded memory, and high-performance analog components
3.FLEX
FLEX™系列测试系统提供低成本的生产测试，广泛应用于模拟、数字、mixed-signal、以及SoC等市场应用范围广泛领域的器件，包括消费类电子器件、有线及无线通讯产品、通信、汽车、宽带处理器、音频、视频器件等的测试。
FELX系统包含了FLEX™平台架构所提供的所有性能。其含有24个通用插槽风的冷测试头相当于容纳一部完整的高精度检测仪器，通用插槽提供了展现这些精密仪器性能的通道，以展示整个系统平台优异的性能。 主机内包含了供电单元和时钟参考，机架空间支持第三方工具，并提供一个集成的机械装置。其风冷、tester-in-a-test-head 设计，为生产测试提供了高效的性能。
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