http://cid-ee4383a0b230ffb7.skydrive.live.com/browse.aspx/ATE%20Mannual Advantest 的目錄 Books-and-Papers 的目錄 Books-and-Papers\Books 的目錄 Credence 的目錄 Other-ATE 的目錄 Other-ATE\Chroma 的目錄 Teradyne 的目錄 Verigy 的目錄 Tester使用手冊： 國產 AST-2000全套资料 日本 TESEC971 manual 日本VTT V7 Manual 日本Juno DTS-1000 Manual 台灣德律 TR-6800 Manual 台灣美達AMIDA-1000详细中文培训手册 台灣久元Scud-1A/ Verigy V50 資料 台灣久元Scud-1A/ Verigy V50 Technical Specifications 美國EAGLE Tester 的相关资料 Teradyne J750 MSO Manual Verigy V93K test method programming reference Advantest T5501 Tester Intoduction 電子書eBooks： Advantest：A Collection of Pattern Programs at Memory Device Tests PLL Performance, Simulation, and Design Mysteries of the Smith Chart Transmission Lines, Impednace Matching, and Little Known Facts 《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》 《The Fundamentals of Mixed Signal Testing》 《Digital Logic Testing And Simulation》 《An Introdaction to Mixed-Signal IC Test and Measurement》 《Bushnell-Essentials of Electronic Testing》 《Arithmetic Built-in Self-Test for Embedded Systems》 《Production Testing of RF and System-on-a-Chip Devices for Wireless
Communications》 《System-on-Chip Test Architectures》
《 Joe Kelly-advanced production testing of RF soc and sip devices 》 版主四有大一步一腳印的翻譯《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》： 第二章.半导体测试基础（3）——测试系统 第二章.半导体测试基础（4）——PMU 第二章.半导体测试基础（5）——The Pin Electrics 第二章.半导体测试基础（6）——测试开发规则 第三章.基于PMU的开短路测试 第四章.DC参数测试（1） 第四章.DC参数测试（2） 第四章.DC参数测试（3） 第四章.DC参数测试（4）-VOH/IOH 第四章.DC参数测试（5）-VOL/IOL 第四章.DC参数测试（6）-Gross IDD 第四章.DC参数测试（7）-Static IDD 第四章.DC参数测试（8）-IDDQ & Dynamic IDD 第四章.DC参数测试（9）- IIL / IIH 第四章.DC参数测试（10）- Resistive Input & Output Fanout 第四章.DC参数测试（11）- High Impedance Currents, IOZH/IOZL 第四章.DC参数测试（12）- IOS test 第五章．功能测试（2.测试周期及输入数据） 第五章．功能测试（3）——输出数据 第五章．功能测试（4）——Output Loading for AC Test 第五章．功能测试（5）——Vector Data 第五章．功能测试（6）—— Functional Specifications 第五章.功能测试（7）——Gross Functional Test and Equation Based Timing 第五章.功能测试（8.1）——Functionally Testing a Device 第五章.功能测试（8.2）——功能测试实例 第五章.功能测试（9.1）——标准功能测试(1)：O/S Test 第五章.功能测试（9.2）——标准功能测试(2)：VIL/VIH Test 第五章.功能测试（9.3）——标准功能测试(3)：VOL/IOL VOH/IOH Test 第五章.功能测试（9.4）——标准功能测试(3.1)：VOL/IOL VOH/IOH Test (2) 第五章.功能测试（9.5）——标准功能测试(4)：Z-state Test 第五章.功能测试（9.6）——标准功能测试(4.1)：Z-state Test (2) 第六章.AC参数测试（1）——测试类型 第六章.AC参数测试（2.1）——标准AC参数(1) 第六章.AC参数测试（2.2）——标准AC参数(2) 第六章.AC参数测试（3.1）——静态RAM的AC参数 第六章.AC参数测试（3.2）——创建功能时序 Lilei大俠 (大家好才是真的好！) 的一些精品文： ADC静态电参数测试（1） DAC 静态电参数测试 混合器件 DC-DC模块测试方法详解 集成电路测试适配板开发工作的规范化 三端电源及LDO测试方法及要点 运算放大器测试原理详解 PWM器件测试方法 回复:小电阻的测量问题 回复:34063的hfe怎么测试 一些常見問答： Test Plan 的產生流程 A/D与D/A
ADC Zero scale与Full scale量測與計算 ADC测试，如何消除输入信号二次谐波的影响？ 测试ADC时，snr偏低是什么原因？ 用Teradyne的Catalyst机台测试模拟芯片时的问题 ADC测试应该怎么搭建测试平台 ADC 的INL 是如何映射到distoration上的？ 过采样於測試上的應用 欠采样的解析 THD测试与AWG/DIG的关系 测Mixsignal动态参数的设置问题 Video/Graphic DAC test DDR2&Video DAC测试 测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗？ 各家Tester ADC Linearity For Sine wave的Lib DAC 测试的问题 Functional 與 Scan Pattern/ 測試程式 Test Time 估算/ Index Time 與 Test
Item Overhead Time/ 用Pattern測DC參數/ 把10MHz與100MHz的pattern放在一起 讲讲SCAN测试 并行测试等问题 IOZ测试pattern SOC测试与ASIC测试的区别是什么？ ATE上USB2.0都怎么测试 相位噪声测试 用PMU量600MHz時脈佔空比 板上電容種類的選用 繼電器Relay在測試上的應用 一般DPS電流量測的架構及流程 DRAM测试中IDD1的问题 34063阈值电压VTH如何测？ 电源纹波抑制比（PSRR）测试 IP testing簡介 介绍一下RFID测试 Agilent S参数培训资料 站外可下載資源： 儀表與量測
超大型積體電路導論 / 系統設計
当前离线
