將大大的問題描述整理一次:
1. ADC F-sample=4.4MHz, F-tone=1.1MHz 時,SNR 穩定量得 ~75dB。
2. ADC F-sample=8.8MHz, F-tone=2.2MHz 時,SNR 不穩定,-5~65dB 之間常態變動。
小班唯一不清楚的是ADC的digital output是serial的8.8MHz*16bit=140.8MHz還是parallel的
16pin 8.8MHz output。因為你認為serdes (串并转换器) 造成8.8MHz的不穩定,所以我想
這ADC應該是serial output (因為ADC本來是16bit平行輸出,換成1bit串列輸出才出問題)。
所以問題依樓主的猜測可以再縮小到:
1. 在70MHz (4.4MHz*16) 時pattern可以match並capture到穩定的ADC data。
2. 但是在140.8MHz (8.8MHz*16) 時pattern的match可能不穩並capture到錯誤的ADC data。
小班依據上面假設提出一些看法:
1. 若是懷疑match,pattern 中 match 的信號在8.8Msps 時是否穩定,這項可將該test item
設成無限循環,掛上示波器觀察 match 的信號是否在高低速的穩定度不同。
2. 若DUT輸出的match的信號高速下很完美,再來就是確認Catalyst是否以normal mode來run這
140MHz的pattern,大部分tester的sequencer command只能工作在1X normal mode,什麼
2X mode, doublet mode, double_drive_mode, fast
mode...通通不對頭,其中尤其match loop
類的seq命令限制最多。若真是如此,請退求其次,把pattern降速回到1X mode的極限吧。
3. 若IC還要改版,請designer老大留個mode把PLL跳掉,直接讓tester灌串并转换器的16X clock,
正本清源,一了百了。PLL的16倍140MHz clock可以量個頻率就驗證完畢,混到AD/DA裡面跟著
一起量測就問題百出,麻煩的不得了。