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求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?

版主: 四有芯人  红阳电子 
求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
现象:测试ADC时snr结果落在-5dB到65dB之间,其状态呈现正态分布,落在50dB左右的机率最高。
问题定位:目前分析造成上述现象的最有可能原因是DUT与ATE数据传输不匹配引起,不知道还有没有其它的原因?
如果是由于不同步引起,最有效的解决办法是什么?小弟在此先谢过了!
 
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RE:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
数据传输不匹配?
个人认为可能是采样的周期数M不够造成的……
当然还有可能是其他原因:Tester的波形需要一定的稳定时间、测试夹具的阻抗匹配等……
建议排出法:增加pattern中器件的等待时间,让测试机输出波形稳定;增加采样周期,提升相干采样的效果;延长relay切换的等待时间,消除噪声信号的干扰;等等。
抛砖引玉……
 
很多时候,不是我在搞测试,而是测试在搞我……
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回复:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 

N年前,曾玩過一顆10bit Video AD,這顆AD設計時並未考慮到量產測試的問題,忘了把
ADC用的sampling clock留個test mode拉出來 (以便讓tester的clock同步取樣),慘的是
這Video AD一般是用數十~數百KHz的H-SYNC信號透過PLL起振到1百多MHz (上千倍的divider),
於是便產生了取樣不同步的問題 (tester的100MHz與DUT的100MHz不匹配,因為PLL每次起振的
的頻率略有誤差),量測的現象與樓主所述非常相似,即便是只量線性,INL也是奇慘無比。
 
唯一提高performance的辦法分成幾個方向:
1. 將PLL的divider設定到最小,使PLL的倍頻比率拉到最低,間接使頻率誤差的比率降低。
2. 量測時須讓PLL起振時間夠久 (pattern裡面放repeat cycle,數十ms也不為過),PLL的
 外部LPF (Low Pass Filter) time constant改到到Hz級 (PLL外部濾波器時間常數越低,
 settling time越慢,但cycle to cycle jitter越小),使其起振後的目標頻率更為穩定。
3. 將每次測試采樣的點數(N)儘量降低,以10bit AD的線性量測為例,sample size設定到
 1200點左右,即便想抓4096點 (每code ideal有4個hit),也是pattern分成四次跑完後,
 再將4次的結果組合起來後再進行histogram運算,藉此躲掉采樣頻率不同步,pattern
 跑越久差異越大的問題。但是此法並不適用於動態參數量測(SNR, THD),所以在無法同步
 的AD量測動態參數是個災難 (disaster),要不嘛放棄不測,要嘛乾脆在tester flow內重複
 4~8次,量到好的數字就算pass (in flow re-test),畢竟按常態分配 (normal distribution)
 ,重測4~8次總該有一次pass吧。
 

[最后修改于2008-04-08 13:27]
 
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RE:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
樓主潛水去了,本樓就不頂了。
 
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回复:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
谢谢四有和DennyT的精彩回复,最近一段时间一直在查找引起上述问题的原因,目前还没有找到有效的解决办法。下面详细介绍一下被测芯片本身及测试的方法,以期两位高手据此为我这个“迷途的羔羊”指出一条明路,呵呵。
1. 被测芯片主要模块包括ADC、DAC、LPF、LineDriver、PGA、PLL和DCXO等模块。整个芯片分发送与接收两条通路,发送通路包括串并转换器、DAC、LPF和LineDriver;接收通路包括PGA、LPF、ADC及串并转换器。串并转换器的主要作用是把串行过来的16bit数据转为16bit的并行数据送给DAC,同时还可以把ADC输出的16bit并行数据转换为串行的,这部分转换电路的时钟是由片外晶体产生的标准时钟由PLL模块2倍频或4倍频产生,当然晶体产生的标准时钟调整范围及精度可由片内的DCXO模块控制。
2.该芯片是用Catalyst机台测试,目前除了接收通路的snr不稳定外,其它所有模块的静态及动态参数都通过测试。其中接收通路snr测试分两步完成:1)是输入1.1M的正弦信号,此时ADC采样频率是4.4M(ADC的采样时钟是由机台提供,不经过芯片内部的PLL,直接经过分频模块直接给ADC),测试所得snr为75dB左右;2)输入2.2M正弦信号(这是本产品的一项重要功能,频宽比原来扩展了一倍,所以被测信号也加了一倍,不知道这样合不合理),此时ADC采样率是8.8M,此时测试所得的结果就会呈现出如前所述的正态分布。
3.问题分析:
1)经过与测试工程师讨论,该测试好像不满足“相干原理”,即ADC采样率与输入信号之比是4,在pattern中是总共对65536个正弦波取样,这样做应该也只是重复取样,获得的“信息”应该不是很多,但所输入1.1M信号时测试的结果却稳定在75dB左右。对于这一点我到现在也理解不透,也许是我对目前测试机理理解不深吧。
2)ADC的采样时钟是由机台提供的,不经过芯片内部的PLL(此时芯片外面晶振与芯片内部的DCXO模块都不工作,机台的时钟一路给PLL的输入,一路提供给ADC与DAC),所以ADC与机台的工作肯定是同步的。唯一可能引起不同步的是串并转换器的时钟是由PLL倍频后送给该模块,该时钟最有可能引起机台与芯片不同步。
3)确定了问题的原因后,从相应的pattern中看到,为修正上述不同步有很长的一段的match语句,这部分应该就是造成接收通路snr不稳定的根源。在输入1.1M正弦信号ADC采样率4.4M时,注释掉match,果然出现snr不稳定的情况。然而在输入2.2M信号ADC采样率8.8M时,仍然出现snr不稳定的情况。两种工作模式下在pattern中所不同的是后一种情况仅仅是速率加快一倍,结果就不match了。后来猜想可能是因为速率加快了,芯片内部的PLL还没有达到稳定的工作状态,所以把pattern内的相关loop都加了很多倍,可是结果仍然是一样,郁闷!
4.说明
1)该测试程序不是公司的测试工程师自己研发的,而是买的,据说写该测试程序的工程师也已经不知所踪了,所以很多问题也就只通靠自己研究和解决了。
2)经过与测试工程师和Teradyne的技术支持工程师的沟通,他们说很少在pattern使用match,即使用也采用另外的方式。
3)现在还有另外一点就是可能这款芯片的ADC工作在8.8M时就是不稳定,所以也需要在系统上测试该芯片的稳定性,这可能是我今天要做的工作,呵呵。
说了这么多,不知道说的清不清楚。希望两位高手指教,小弟先行谢过了!
 
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回复:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
將大大的問題描述整理一次:
1. ADC F-sample=4.4MHz, F-tone=1.1MHz 時,SNR 穩定量得 ~75dB。
2. ADC F-sample=8.8MHz, F-tone=2.2MHz 時,SNR 不穩定,-5~65dB 之間常態變動。
 
小班唯一不清楚的是ADC的digital output是serial的8.8MHz*16bit=140.8MHz還是parallel的
16pin 8.8MHz output。因為你認為serdes (串并转换器) 造成8.8MHz的不穩定,所以我想
這ADC應該是serial output (因為ADC本來是16bit平行輸出,換成1bit串列輸出才出問題)。
 
所以問題依樓主的猜測可以再縮小到:
1. 在70MHz (4.4MHz*16) 時pattern可以match並capture到穩定的ADC data。
2. 但是在140.8MHz (8.8MHz*16) 時pattern的match可能不穩並capture到錯誤的ADC data。
 
小班依據上面假設提出一些看法:
1. 若是懷疑match,pattern 中 match 的信號在8.8Msps 時是否穩定,這項可將該test item
 設成無限循環,掛上示波器觀察 match 的信號是否在高低速的穩定度不同。
 
2. 若DUT輸出的match的信號高速下很完美,再來就是確認Catalyst是否以normal mode來run這
 140MHz的pattern,大部分tester的sequencer command只能工作在1X normal mode,什麼
 2X mode, doublet mode, double_drive_mode, fast mode...通通不對頭,其中尤其match loop
 類的seq命令限制最多。若真是如此,請退求其次,把pattern降速回到1X mode的極限吧。
 
3. 若IC還要改版,請designer老大留個mode把PLL跳掉,直接讓tester灌串并转换器的16X clock,
 正本清源,一了百了。PLL的16倍140MHz clock可以量個頻率就驗證完畢,混到AD/DA裡面跟著
 一起量測就問題百出,麻煩的不得了。
 
 
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回复:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
谢谢DennyT的精彩点评,现就并串转换器与 ADC的数据传输关系补充说明如下:
1)ADC是16bit并行输出,这16bit的数据经过并串转换器转换为高八位和低八
位的串行数据经2pin输出芯片,这样在ADC采样频率为8.8M时,串行输出的
数据速率是8.8M*16bit/2=70M(除2是因为有2pin output)。
2)而DAC通路数据传输则与ADC通路相反。由1pin input serial 的4.4M*16
bit=70M数据给串并转换器,然后由串并转换器输出16bit的4.4M的parallel数据
给DAC,DAC的工作频率一直是4.4M。
3)整个芯片的数据流是这样的:
1pin串行的数字数据经串并转换器送给DAC变为模拟信号转出;
模拟信号经ADC后变为并行数据,然后再经过并串转换变为2pin串行数字数据。
所以Denny的假设是完全正确的。
[最后修改于2008-04-18 18:35]
 
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RE:求助,测试ADC时snr结果不稳定是因为DUT与ATE不同步赞成的吗?
 
下班时间看了一下关于这个问题的梳理过程,觉得DennyT老大想得很全面,一看就是经验丰富的老手!佩服!
 
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