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| 邊界掃描技術資料 |
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随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要。研究了目前较常用的边界扫描测 试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用。重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间 连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog 设计出TAP 控制器,得到TAP 状态机的仿 真结果。
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不是我搞测试，是测试在搞我！
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| 回复:邊界掃描技術資料 |
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原帖由Johnny于2009-01-12 10:58发表:
随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要。研究了目前较常用的边界扫描测
试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用。重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间
连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog 设计出TAP 控制器,得到TAP 状态机的仿
真结果。
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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thanks i need it very much
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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這是boundary scan的資料呀~~這想說要補來了解一下!謝謝 
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| 回复:邊界掃描技術資料 |
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原帖由Johnny于2009-01-12 10:58发表:
随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要。研究了目前较常用的边界扫描测
试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用。重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间
连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog 设计出TAP 控制器,得到TAP 状态机的仿
真结果。
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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thank you for sharing the information
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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紧紧的跟随啊！ 
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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好料!!!!
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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好料! 最近剛好要用到 !
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| RE:邊界掃描技術資料 |
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