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精华:6 等级:诺贝尔奖获得者 注册时间:2007-05-27 最后登录:2012-05-14 |
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| [它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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中科院的微电子所的论文,我这里实行了拿来主义,呵呵…… 摘要:介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析. 声明:本专区发布的资料、软件、程序等,仅限于交流学习,请勿用于商业用途!
[最后修改于2007-07-28 19:49]
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相关主题
很多时候,不是我在搞测试,而是测试在搞我……
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精华:0 等级:高级工程师 注册时间:2007-05-15 最后登录:2012-02-28 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-07-14 最后登录:2009-05-08 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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我也来看看,嘿嘿 
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精华:1 等级:初级助理工程师 注册时间:2007-06-03 最后登录:2012-04-17 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-07-12 最后登录:2009-12-01 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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谢谢搂主 
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-07-29 最后登录:2009-02-23 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-07-13 最后登录:2007-08-14 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:1 等级:学徒 注册时间:2007-07-12 最后登录:2009-06-03 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-08 最后登录:2007-08-08 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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我也来看看,嘿嘿 
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-11 最后登录:2007-08-16 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-14 最后登录:2012-04-27 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-14 最后登录:2011-06-26 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:助理研究员 注册时间:2007-08-13 最后登录:2008-02-24 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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谢谢,看一下! 
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活就活的干脆
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-05-18 最后登录:2010-05-10 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-13 最后登录:2012-04-28 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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头衔:版主
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精华:6 等级:诺贝尔奖获得者 注册时间:2007-05-27 最后登录:2012-05-14 |
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原帖由sanctum于2007-08-17 09:05发表: 四有芯人是Advantest的么? 呵呵,不是哟~~ 曾经有机会用他们的机台,但是基于朴素的爱国主义,最后决定不用,老板默许,嘿嘿……
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很多时候,不是我在搞测试,而是测试在搞我……
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头衔:版主
积分:11805 帖子:604
精华:6 等级:诺贝尔奖获得者 注册时间:2007-05-27 最后登录:2012-05-14 |
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原帖由liuz0925于2007-08-14 11:03发表: 怎么都得要回复。 呵呵,付出才有回报嘛,好比我们玩魔兽时,总得去打怪才能长经验嘛……
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很多时候,不是我在搞测试,而是测试在搞我……
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-21 最后登录:2008-12-11 |
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精华:0 等级:工程员 注册时间:2007-06-23 最后登录:2011-03-15 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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Good good study,day day up!!
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-23 最后登录:2007-08-23 |
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原帖由四有芯人于2007-07-28 19:47发表: 中科院的微电子所的论文,我这里实行了拿来主义,呵呵…… 摘要:介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析. 声明:本专区发布的资料、软件、程序等,仅限于交流学习,请勿用于商业用途! 斑竹,受教咯`
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-08-29 最后登录:2011-10-21 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:学徒 注册时间:2007-09-17 最后登录:2011-02-26 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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精华:0 等级:工程员 注册时间:2007-09-23 最后登录:2007-10-12 |
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| RE:[它山之石]《基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析》 |
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