11月5日和9日，力科公司分别在上海和深圳举办了USB3.0暨SATA 3.0的端到端测试解决方案技术研讨会。 来自美国的专家David，Roy,Annie等和大家分享了目前USB3.0和SATA 3.0这两大热点接口的最新市场状况，技术特点，从发送端到接收断和协议层的测试规范要求及相应的LeCroy测试解决方案。 研讨会现场，力科公司为大家演示了USB3.0和SATA 3.0样品的端到端的测试全过程。 两场研讨会的与会听众超过了200多人，深圳现场更是座无虚席。 会场听众提问极其踊跃，会议间隙，大家的问题更多，团团围住了我们的专家进行热烈讨论，这个场面和我周日参加凤凰大讲堂，大家团团围住何亮亮的追星场面极其一致。
下面选取几张我参加的深圳现场的图片和大家分享这次研讨会的盛况。由于我的拍摄技术太差，大家只能大概感受一下了呵。
座无虚席:
测试环境:
来自美国的David Li(USB-IF测试规范小组成员)给大家讲解USB3.0测试:
休息间隙,听众团团围住我们的专家进行热烈交流:
来自美国的美女专家Annie给大家讲解USB3.0的协议测试:
来自美国的专家Roy给大家讲解SATA规范及测试,Annie为他现场翻译:
Annie为大家讲解SATA的协议测试:
听众与专家进行深度交流:
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