汪进进的博客

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• DDR 测试系列之二—— 使用力科 WaveScan 技术分离 DDR2 的读写周期　2010-11-15 18:30
    DDR 测试系列之二—— 使用力科 WaveScan 技术分离 DDR2 的读写周期              测量DDR2存储设备需...
  

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• DDR测试系列之三—— 某SDRAM时钟分析案例　2010-11-15 18:29
  DDR测试系列之三—— 某SDRAM时钟分析案例       张昌骏 美国力科公司深圳代表处           前个周...
  

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• DDR测试系列之四——漫话DDR3 张鹏 美国力科公司西安联络处　2010-01-07 00:22
  DDR3简介       DDR3（double-data-rate three synchronous dynamic random access memory）是应用在计算机及电子产品领域的一种高带宽...
  

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• DDR测试系列之三——某DRAM时钟分析案例 张昌骏 美国力科公司深圳代表处　2009-12-13 07:17
                           ...
  

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• DDR测试系列之二——使用力科WaveScan技术分离DDR读写周期 美国力科公司　2009-12-12 23:05
      测量DDR2存储设备需要把读/写的访问周期分离开来。在DDR2中通过Strobe和Data总线之间的关系可以区分出来读和写的操作。如图1所示，在读操作时...
  

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• DDR测试系列之一——力科DDR2测试解决方案 张鹏 美国力科公司西安代表处　2009-11-28 10:43
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