基于TDR规范的阻抗、差分阻抗测试方法及应用(中文讲演)
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更新于2007-06-08 17:05:42

专题范围

       是次研讨会将讨论利用TDR时域反射测量特性阻抗的基本原理,你将会明白何谓"真"差分阻抗,共模,偶模与齐模阻抗等。也会讨论到TDR测量阻抗时的分辨率与误差,其中将着重讲论如何按照IPC-TM-650工业测量阻抗的标准规范去增加你测量的精度的"最好操作"方法。同时也会提及TDR在验证信号完整性的重要性,测量PCB,线材,高速背板与IC封装特性阻抗等应用。

赞助企业

Tektronix, Inc.
www.tektronix.com 

        泰克公司综合经营检测、测量和监视设备,为半导体、电脑、电讯等行业提供测量解决方案。凭借其超过55年的丰富经验,泰克公司能够使用户设计、建立、使用和管理下一代全球通讯网络和因特网技术。泰克公司总部设在俄勒冈州的毕佛顿市,并在全世界20多个国家设有分支机构。泰克公司的网站是www.tektronix.com

专家介绍

孙灯亮先生
高级应用工程师

邓锦辉先生
销售经理

        孙灯亮先生 ,1999年从西安电子科技大学毕业,2002年7月作为高级应用工程师加入泰克电子(中国)有限公司,负责信号完整性测试分析方案、TDR、Jitter、光、IC、系统总线测试方案等的技术市场支持和EVDC创建、开发工作;此前2年,在华为技术有限公司中研信号完整性分析研究部从事信号完整性分析和高速系统互连设计工作;在此之前,在联想电脑公司QDI事业部研发部从事计算机主板研发工作。 

        邓锦辉先生现职泰克公司销售经理,负责运算及通信市场。擢升此职位前,他是该公司的高级客户经理。他加入泰克八年,在 1994 年毕业于香港大学电子工程系。

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