半导体测试技术交流专栏-与非网

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作者介绍

四有芯人，某芯片设计公司担任IC测试工程师角色，主要从事半导体芯片产品的量产测试开发工作。[更多介绍]

术语词典:IC 半导体 PMU

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半导体测试技术交流专栏
集成电路（IC）产业由来已久，一颗芯片的诞生，经历了设计、制造、封装、测试等诸多环节，测试处于整个流程链的后端，控制着产品的质量，关乎产品的性能、品质；同时，测试还起着监控产品制程的作用。伴随着集成电路集成度和复杂度的提高，测试也越来越困难，覆盖率提升越发困难；测试成本也节节上升，新近统计，测试成本已经占到了半导体器件整体成本的1/3。如何“有效”（提升测试覆盖率）而“便宜”（降低测试成本）地进行IC测试，已经是业界热论的话题。 [ 阅读全文 ]

第1章认识半导体和测试设备

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1947年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技术变得越来越重要...

第1节　晶圆、晶片和封装
第3节　半导体技术
第5节　测试系统的种类
第7节　探针卡（ProbeCard）

第2节　自动测试设备
第4节　数字和模拟电路
第6节　测试负载板（LoadBoard）...

第2章半导体测试基础

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半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标...

第1节　基础术语
第3节　测试系统
第5节　管脚电路

第2节　正确的测试方法
第4节　PMU
第6节　测试开发基本规则

第3章基于PMU的开短路测试

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Open-Short Test也称为Continuity Test或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路...

第1节　测试目的

第2节　测试方法

第4章 DC参数测试

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测试程序流程中的各个测试项之间的关系对DC测试来说是重要的，很多DC测试要求前提条件...

第1节基本术语
第3节 VOL/IOL
第5节 Static IDD
第7节 IIL / IIH
第9节 IIL / IIH
第11节 High Impedance Curren...

第2节 VOH/IOH
第4节 Gross IDD
第6节 IDDQ & Dynamic IDD
第8节 Resistive Input & Outpu...
第10节 Resistive Input & Outp...
第12节 IOS test

第5章功能测试

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功能测试是验证DUT是否能正确实现所设计的逻辑功能，为此，需生成测试向量或真值表以检测DUT中的错误，真值表检测错误的能力可用故障覆盖率衡量，测试向量和测试时序组成功能测试的核心...

第1节基础术语
第3节输出数据
第5节 Vector Data
第7节 Gross Functional Test an...
第9节标准功能测试

第2节测试周期及输入数据
第4节 Output Loading for AC Te...
第6节 Functional Specification...
第8节 Functionally Testing a D...

第6章 AC参数测试

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为了保证器件满足时序规格，我们需要进行AC参数测试，按照规格书设定时序参数和信号格式来进行，通过运行一段功能测试的向量序列实现AC参数的测试。

第1节测试类型
第3节静态RAM的AC参数

第2节标准AC参数

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