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测试测量行业趋势:仪器将走入芯片  2008-05-15 10:27
我在前文中转载了一篇EDN的文章《As SOCs grow, test-and-measurement instruments move on-chip》,因为工作太忙的缘故没能全文翻译。现在这篇文章的中文版本终于出来了,希望能够对一些正在苦苦探索新路子的半导体公司和一些寻找机会市场的工程师们有所参考。NI LabVIEW的创始者Jeff Kdosky在向员工描述LabVIEW的未来时说“说不定那一天,你会看到一个纯粹地LabVIEW芯片。”我相信这位计算机科学家的预言会在某一天实现,我也相信这个趋势下会诞生拥有新技术的测试测量解决方案提供商,但我希望能够看到中国公司的身影。

如此,则国家幸甚,民族幸甚。
类别:测试测量 |
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