基于51单片机的集成电路测试仪(原理图+源码)

2021/11/09 15:44
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方案介绍

   本系统能对实验室常用的部分TTL74系列芯片进行逻辑功能测试,以此来确定芯片的型号及判断这些芯片功能的好坏。该设计基于AT89C51单片机来进行技术的检测,通过对按键的控制来实现查询模式和测试模式的选择,进一步检测所测芯片的型号,显示结果通过LCD1602和双LED灯来共同显示,完成了所要检测芯片显示相关信息的要求,该设计目前可以检测芯片的型号有74LS0074LS0274LS0474LS0874LS2074LS13874LS148,实现了简易集成电路测试仪的相关功能。

  • Sheet1.SchDoc
    描述:AD
  • 程序.zip
    描述:源码
  • 1212121.pcbdoc

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