奇石乐集团在3月30日(星期二)16:00 – 17.00 CEST举行了一个网络研讨会,介绍如何使用动态力测量方法来帮助优化半导体制造的生产效率和产品质量。

 

AI,5G或IoT等新应用增加了对半导体性能的需求。随着质量检查和过程监控的重要性增加,这也给生产带来了新的挑战。 

 

演讲者–奇石乐业务发展经理Robert Hillinger和应用专家Jim Macy –将演示奇石乐的测力解决方案如何在生产过程中监控机械应力,降低ppm废品率以及提高机器性能和速度精度。参与者将了解奇石乐产品组合如何使他们能够应对未来的制造挑战,同时受益于更高的过程可视性,更低的质量成本和过程数据的可追溯性。


要注册,请单击此处https://www.globalspec.com/events/eventdetails?eventId=3333也欢迎那些有兴趣但无法参加网络研讨会的人进行注册。之后,所有注册者都可以访问网络研讨会的录像。

 

 

图像资料(请将奇石乐集团命名为图片来源)
在3月30日的网络研讨会中,奇石乐专家将指导参与者了解半导体制造中动态力测量的潜力。