触控按键产品应用推陈出新,终端产品朝向智能化趋势发展,市场迈入高速成长阶段,合泰半导体(HOLTEK)全新推出资源更丰富、效能更高的5V宽电压Arm® Cortex®-M0+ 触控单片机HT32F542xx系列,型号为HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253,频率最高可达60MHz,提供最多28个触控键,适合用于智能家电、数字电子锁、工业控制等市场。


此系列单片机除了带有更稳定及可靠的电容式触控引擎核心硬件外,同时具备USART/UART/SPI/I²C等标准通信接口,让设计者易于连接各类传感器、无线模块等来扩展产品功能,进而开发各类智能型家用电器及物联网终端设备。

 

HOLTEK新推出32-bit Arm® Cortex®-M0+ 单片机 (合泰)


触控按键感应依原理大致可区分为:电阻式、电感式、电容式、红外线式、表面声波式等,目前市场主要以电容式为主。终端应用产品除了要实现触控功能,同时做到稳定及符合EMC规范、则是技术上的挑战。合泰协助客户在触控按键应用的开发初期,先建立正确的测试程序,避免掉潜在性能问题随货销售而导致客诉,诸如AC供电或各种环境下遭遇的电源高频干扰、潮湿、水气等,都极易造成触控按键误动作或失效现象。


影响触控稳定性的原因及完善的测试方法:


常见干扰源
常见干扰:电压波动、温度/湿度变化、电磁干扰(RF天线、对讲机等)、电源干扰(电机启动、日光灯启动)等,都有可能引起触控不稳定。


完善的测试
以下测试方法基本可以营造出一般电子设备的使用环境,只要通过这些项目的测试,设计出来的触控产品都是相对稳定可靠的。


1.功能测试:操作触控按键的过程,同时将工作电压从高调到低,再从低调到高反复做测试。


2.潮湿环境测试:利用水蒸气让待测的触控面板上结满露水,或者把触控面板靠近空调出风口,湿度越高电容值越高,相反地,湿度越低则电容值越低。


3.温度测试:用烘箱或热风加热,放入冰箱或冰柜制冷测试,设备充足的情况下还可以用专业的温度箱测试。


4.电源干扰测试:测试EFT脉冲群抗扰度,标准IEC61000-4-4、GB/T 17626.4,测试射频场感应的传导骚扰抗扰度:标准IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。


5.空间辐射测试:测试射频电磁场辐射抗扰度试验,标准IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3,测试场强在3~10V/m之间。
6.ESD测试:标准IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。

 

合泰半导体(HOLTEK)自2006年开始研发设计触控按键IC,基于提供客户全面且专业的技术服务,于2008年成立「优方科技」,双方共同致力于触控感应解决方案的研究与发展,迄今积累十多年经验,每年协助客户量产数量多达2亿台。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的触控单片机,期望未来在触控应用市场中,提供客户从快速导入开发设计、终至成品量产出货的专业技术服务及完整解决方案。