VLSI测试技术详解
[摘要]
VLSI电路的测试技术如今面临着许多激动人心和复杂的挑战。在大型系统嵌入单个片上系统(SOC)并制造的时代
不断缩小技术,确保整个系统的正确行为非常重要。今天的电子设计和测试工程师必须处理这些复杂的问题异构系统(数字,混合信号,存储器),但很少有可能以详细和深入的方式研究整个领域。本书提供了极其广泛的学科知识,详细介绍了基础知识,以及最新和最先进的知识概念。它是故障模拟,ATPG,内存测试,DFT和BIST基础知识的教科书。但是,它也是一个完整的可测试性指南,适用于想要学习DFT软错误保护,用于高速测试的逻辑内置自测(BIST),DRAM BIST,测试压缩,MEMS测试的最新进展的工程师,FPGA测试,RF测试等
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上传时间:2019/01/22