半导体存储器测试概论
[摘要]

半导体存储器测试概论,主要内容包含:

1.存储器测试流程

2. Wafer Sort 流程

3. Assembly 流程

4. Fianl test流程

5. Test item简介

6. Continue test

7. input leakage test

8. out put leakage test

等等,详见文档。

资源类型:pdf
资源大小:1.03MB
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上传时间:2019/01/22