STM32G4的ADC多通道扫描模式数据错乱
硬件环境[*]MCU 型号：STM32G474RET6
[*]开发板：自定义板（或 STM32G474E-EVAL）
[*]ADC 配置：
ADC1 启用，分辨率 12 位
多通道扫描模式（至少 3 个通道：如 PA0、PA1、PA2）
采样时间：47.5 周期（或其他值）
触发源：软件触发（或定时器触发）
外部电路：
输入信号：稳定直流电压（如 1V、2V、3V）
分压网络：10kΩ 上拉 + 10kΩ 下拉（确保输入阻抗匹配）
去耦电容：0.1μF 并联至地
软件环境
[*]开发工具链：STM32CubeIDE v1.10.1（或 Keil MDK、GCC）
[*]HAL 库版本：STM32Cube FW_G4 V1.5.0
[*]配置方式：
CubeMX 生成初始化代码
手动调整 ADC 参数（如采样时间、转换顺序）
[*]中断配置：
ADC 转换完成中断（EOCIE）使能
DMA 模式：禁用（或启用，问题现象不同）
问题现象
[*]数据错乱表现：
ADC 读取值与输入电压不匹配（如通道 0 显示通道 1 的值）
数据跳变：同一通道的连续采样值波动超过 ±5LSB
通道间串扰：某通道输入变化影响其他通道的采样结果
周期性错误：特定通道固定偏移（如所有值偏移 + 200）
G4勘误表可以看一下
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