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  • 芯片测试大讲堂——半导体参数测试与避坑指南
    芯片测试大讲堂——半导体参数测试与避坑指南
    本期我们来聊聊半导体参数测试。内容涉及半导体参数测试原理,参数测试面临的挑战与实测避坑指南。半导体元器件是构成现代电子设备和系统的基础,其性能的好坏、稳定性的高低直接影响到电子设备的性能和可靠性。从最笼统的角度说,我们可以利用半导体参数分析仪对半导体器件进行IV参数测试,即电压和电流关系的测试,也可以延展到CV参数测试即电容相关的测试。