深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek,简称 iSTART),宣布君曜科技采用芯测科技便捷版内存测试开发平台 -EZ-BIST 于 IC 芯片设计中,帮助客户降低成本且高效率的内存测试开发工具,可协助客户快速的开发产品,避免忽略内存测试的细节而导致产品良率下降。 
 

「芯测秉持着帮助开发者以更简单、更快速、更低成本的途径实现 SOC 设计的初衷,提供优化的内存测试电路。」芯测科技客户销售部协理李玉如表示「芯测科技凭借其高效能、低功耗可程序化暨管线式架构内存测试技术,能够协助客户有效的控制产品成本,满足客户的成本和产品可靠性的需求。而芯测与君曜再次合作就是最佳范例的展现。」