最近在公司党委的组织下,参观了革命遗址,了解了当地革命的历史过程,有一点真实感受:要做成一件事情,前提是要做成无数件繁杂的小事;放在工作上面来讲,如果我最终想要一个好的结果,那在实现的过程中要做好充分的铺垫积累。
这次再转向学习看起来比较枯燥的浪涌测试标准,具体如下图:
概述这个测试全称为浪涌(冲击)抗扰度试验(Surge immunity test),它是针对设备对由开关和雷电瞬变过电压引起的单极性浪涌(冲击)的抗扰度测试,用来评价电气电子设备在遭受浪涌(冲击)时的性能。试验等级虽然在标准《GB/T 38661-2020 电动汽车用电池管理系统技术条件》中并未要求BMS做浪涌测试,但我了解到许多主机厂还是要求其零部件供应商做浪涌测试的,个人认为后面这个测试一定会被大家重视起来。在标准GB/T 17626.5中,给出了建议选择的试验等级,如下图所示:分为线-线之间与线-地之间两种模式,最大可以到4KV;在BMS上面,浪涌大部分用来测试低压12V端口以及快充接口信号,一般采用500V的浪涌试验电压。
浪涌波形发生器浪涌波形发生器的样子如下图所示(图片来自em test官网),一般内部也同时集成了耦合\去耦网络,也可以外部进行选配,使用单独的耦合\去耦网络。
针对上图型号为Compact NX5的浪涌波形发生器,其关键参数如下图,大家可以感受下,后面马上介绍浪涌波形特性。
下图为浪涌发生器的内部电路,与之前介绍过的EFT/B发生器稍微有些区别,多了电感用于调节输出波形的上升时间。
试验浪涌波形我们这里主要涉及的就是一种电压波形,即1.2/50us浪涌电压波形(如下图),要求波前时间为1.2us,持续时间为50us。
注意上面这个波形是在浪涌发生器输出端开路的情况下测得的,因为外部如果接EUT的话,相当于并了一个负载,那么真实输出的波形会变的;例如下图是在EUT电源端口的不同位置捕捉到的浪涌波形,其幅值是变化很大的。
上面的这个开路电压波形,如果在EUT呈短路状态的时候,要求发生器输出的短路电流波形如下,即8/20us短路电流波形。
下图为这两个波形的时间定义:
耦合/去耦网络选择耦合与去耦网络的选择是与测试对象关联的,下面介绍我们可能会涉及的几种场景。电源线如果测试对象为EUT的电源端口,那么可以分为线-线耦合与线-地耦合两种耦合方式。下图为线-线耦合,通过18uF的电容将浪涌波形耦合到EUT(图片来自em test官网)。
下图为线-地耦合,通过10Ω+9uF的阻容将浪涌波形耦合到EUT(图片来自em test官网)。
篇幅原因,信号线与通信线的耦合方式放到下一章节再总结。总结:接下来会介绍实际在BMS上面是怎么测试的;后面有时间的话,准备结合工作实际,整理出高压采样端抗浪涌能力的几个评价方法;以上所有,仅供参考。