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基于TMS320F28335+PCI的光栅纳米测量卡的设计

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发表于 2013-3-22 14:23:04 | 显示全部楼层 |阅读模式
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基于TMS320F28335+PCI的光栅纳米测量卡的设计
    摘要:光栅纳米测量卡广泛应用于现代几何量计量设备中,精度高,动态测量范围广。目前国内市场上的光栅测量卡主要来自于国外,价格昂贵,相关的自主产品比较少。本文设计了一种基于DSP+PCI的光栅纳米测量卡,对测量的光栅信号进行放大,通过DSP高倍细分,再通过PCI接口芯片CH365与计算机相连,实现高精度、快速光栅纳米在线测量。
    关键字:光栅纳米测量;TMS320F28335;PCI
 

基于TMS320F28335+PCI的光栅纳米测量卡的设计.pdf

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该用户从未签到

发表于 2013-3-23 16:39:46 | 显示全部楼层

回复:基于TMS320F28335+PCI的光栅纳米测量卡的设计

很好
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