本帖最后由 pinokio 于 2014-3-19 19:01 编辑
一、项目名称
PZT动态响应测量
二、项目描述 在计算机硬盘内部,广泛使用PZT在硬盘内部的读写头上,该PZT的好坏直接影响到硬盘的性能。因此在硬盘头堆HSA的生产中,必须保证出货产品上的PZT没有问题,关于PZT的缺陷中,有一类典型的问题就是PZT内部裂纹导致产品失效, PZT即压电陶瓷(锆钛酸铅陶瓷),具有压电效应,在受到外加电场的时候,会发生形变,将电能转化为机械能,但是如果PZT内部出现裂纹,该效应会发生变化,不良品和良品存在明显区别。 本项目依PZT的压电效应,建立一套测试的软硬件系统,对PZT施加电场驱动并检测其响应,以此来筛选出此类不良的PZT。
三、作品实物图
硬件系统及信号(由于系统较大,分块列出)
直流电源
,
LDV
激光头
,
控制器
,
放大电路及加法器
,
PC、连线等略
四、演示视频
演示视频为调试时,PC端对采集到的信号进行动态频率提取并检测提取频率的峰值
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