随着时钟速率和数据传送速度在每次性能进步中不断提高,存储器子系统的模拟信号完整性越来越多地成为设计人员关注的领域,他们必须保证系统性能余量,或保证一个系统内部的存储器和存储控制设备的互操作能力。许多性能问题,甚至协议层的问题,都可以追溯到信号完整性问题。因此,在存储器设备上进行模拟检验的重要意义已经提升到验证多种电子设计中的关键步骤。
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