如何克服复杂待测设备的生产测试挑战

2020/11/20 作者：National Instruments

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如何克服复杂待测设备的生产测试挑战

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随着物联网、技术融合、语音控制等领域的不断发展，设备的功能也变得越来越高级，但随之而来的是测试团队的压力不断加剧。回想上一次，您能够明确定义测试的范围，无需增加任何新测量，测试范围也不会随时间的推移而变化，那是多久之前？与之前的几代产品相比，您的测试线配置变得有多复杂？

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