PCI Express® 测试概述

2023/01/31 作者：是德科技KEYSIGHT

加入交流群

扫码加入
获取工程师必备礼包
参与热点资讯讨论

PCI Express® 测试概述

4.83 MB

是德科技最新《PCI Express® 测试概述》白皮书解释 PCIe 4.0、5.0 和 6.0 测试面临的挑战，并介绍全面、可扩展的 PCIe 测试解决方案，包括系统仿真、互连设计、发射机测试、接收机和链路均衡测试、以及协议层测试。

公司介绍

是德科技致力于为电子设计、测试、测量和优化提供突破性的解决方案和可信赖的洞察力，帮助客户加速创新，创造一个安全互联的世界。

前往企业专区

企业社区: RF中文社区; ROHM技术社区; 恩智浦技术社区; ST中文论坛

产品矩阵: Datasheet5; bom2buy; Supplyframe XQ; Supplyframe CIQ; Atlas 芯耀计划

特色服务: 产业图谱; 企业入驻; 客户服务; 内容合作; 电子新闻信

关于我们: 公司介绍; 联系我们; 加入我们; 使用指南; 用户使用协议; 网站地图; 隐私政策; Do not sell or share my personal information

集团旗下: Supplyframe DesignSense; Supplyframe Commodity IQ; Supplyframe DirectSource; Supplyframe CPQ; OEMsTRADE; Samacsys; Hackaday

© 2010 - 2025 苏州灵动帧格网络科技有限公司版权所有

ICP经营许可证苏B2-20140176 | 苏ICP备14012660号-6 | 苏公网安备 32059002001874号

扫码关注
获取工程师必备礼包
板卡试用/精品课

公众号
扫码加入
获取工程师必备礼包
参与热点资讯讨论

官方群
电子硬件助手

元器件查询

小程序