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AN1640降低加速度计对BCI的敏感性

2023/04/25
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AN1640降低加速度计对BCI的敏感性

介绍

汽车制造商要求所有系统电子设备都能通过严格的电磁兼容性(EMC)测试。安全气囊系统是必须在EMC测试中正常运行的系统之一。EMC测试有不同类型,其中之一是测试系统对高频传导发射的耐受性。对于EMC评估而言,最严格的方法之一是批量电流注入(BCI)测试。整个安全气囊系统必须在BCI测试期间保持正常工作。本应用笔记将讨论如何降低Freescale加速度计对BCI的敏感性,但这里提供的信息也可应用于系统中的其他电子组件。

BCI测试设置

BCI测试程序遵循一个公开发表的SAE工程标准,“抗辐射电场~批量电流注入(BCI)”,或者称为SAE J 1113/401。对于安全气囊模块,这涉及通过控制注入探针中的电流向线束注入所需的电流。测试频率可以从1 MHz到数百MHz不等。测试需要每个八度至少20个频率步骤,但也可以使用多达50个步骤。注入探针放置在距离安全气囊模块连接器的线束上的三个距离之一:120、450和750毫米。存在一个监测探针来测量所注入的电流量。它放置在距离安全气囊模块50毫米的位置。这会反馈到系统,以确保所需的测试电流被注入到线束上。图1显示了BCI测试的设置。(更多细节请参见SAE J 1113/401测试程序)。

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CRCW04021K00FKEDHP 1 Vishay Intertechnologies Fixed Resistor, Metal Glaze/thick Film, 0.2W, 1000ohm, 50V, 1% +/-Tol, 100ppm/Cel, Surface Mount, 0402, CHIP, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT

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GRM21BR61E106KA73L 1 Murata Manufacturing Co Ltd Ceramic Capacitor, Multilayer, Ceramic, 25V, 10% +Tol, 10% -Tol, X5R, 15% TC, 10uF, Surface Mount, 0805, CHIP, ROHS COMPLIANT

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恩智浦半导体创立于2006年,其前身为荷兰飞利浦公司于1953年成立的半导体事业部,总部位于荷兰埃因霍温。恩智浦2010年在美国纳斯达克上市。恩智浦2010年在美国纳斯达克上市。恩智浦半导体致力于打造全球化解决方案,实现智慧生活,安全连结。

恩智浦半导体创立于2006年,其前身为荷兰飞利浦公司于1953年成立的半导体事业部,总部位于荷兰埃因霍温。恩智浦2010年在美国纳斯达克上市。恩智浦2010年在美国纳斯达克上市。恩智浦半导体致力于打造全球化解决方案,实现智慧生活,安全连结。收起

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