RT1170

NXP RT1170 实现 “SD 卡启动 + 程序运行在 SDRAM + 电磁兼容（EMC）达标” 的核心方案，是通过 Non-XIP 模式加载镜像、DCD（Device Configuration Data）配置时钟扩频，既满足大容量应用的内存需求，又能分散电磁辐射（EMI）峰值。本文详解从 DCD 扩频配置、Non-XIP 镜像编译到 SD 卡烧录的完整步骤，适用于工业和消费电子中需通过严格 EMC 测试的场景。

NXP i.MX RT1170 通过 FlexSPI 外接 NOR Flash（如 W25Q512N）时，Keil MDK 默认无匹配下载算法，导致程序无法烧录调试。核心解决思路是基于 Keil 自带模板，修改 Flash 属性描述、实现标准编程接口，复用 NXP SDK 的 FlexSPI 驱动，生成专属.FLM 算法文件。本文详解从工程搭建到验证的完整流程，新手也能快速适配任意 FlexSPI NOR Flash。

以MCU为核心的平台为入门级数字互联仪表板(DCC)增添智能手机镜像投屏功能。目前，可集成于仪表板的骑行者必备功能日益丰富，RT产品路线图还将纳入更多先进特性。 更智能的骑行，更简化的技术 骑行者现在可以便捷地在仪表板上直接使用智能手机应用，而无需承担完整娱乐中控系统的成本或复杂性。凭借恩智浦i.MX RT1170 MCU赋能，入门级数字互联仪表板正在迎来一次重大升级。通过智能手机的无缝手机镜像投

以下是根据《RT1170 使用MCUXpressoIDE内置的gcov实现代码覆盖率测试和可视化》应用笔记整理的热门问答，涵盖代码覆盖率测试原理、配置步骤、工具链替换、结果分析等高频问题。

在嵌入式开发中，代码覆盖率是验证测试完整性和提高软件可靠性的关键指标。MCUXpresso IDE 11.9.0 及以上版本内置了 GNU gcov 工具，无需额外安装即可实现代码覆盖率数据收集与可视化。本文以 RT1170-EVK 开发板为例，详细介绍了如何从软硬件准备到结果解读，分步讲解实操流程。主要内容包括： 1. 核心背景与价值：解释代码覆盖率的重要性及其在高可靠性场景中的应用。 2. 软硬件环境准备：列出必要的硬件和软件配置要求，并提供了详细的配置步骤。 3. 分步实操：从导入 Demo 到配置编译选项，再到运行调试和收集覆盖率数据，每一步都有详细的操作指引。 4. 覆盖率结果可视化与解读：展示了如何使用 gcov 视图进行覆盖率数据的可视化和解读。 5. 关键问题与避坑指南：列举了一些常见的问题及其解决方案，帮助开发者顺利实施覆盖率测试。 通过 MCUXpresso IDE 的内置 gcov 工具，可以快速实现 RT1170 项目的代码覆盖率测试，从而提升嵌入式软件的可靠性。