STM32N6 PSRAM 代码调试实操:Attach模式实现外部存储器调试
STM32N6 系列 MCU 因内置 SRAM 容量有限,面对大型应用代码时,需将程序部署到外部 PSRAM 中运行。但 PSRAM 作为外部存储器,调试流程与内部 SRAM/Flash 存在差异,核心难点在于需先通过 FSBL(第一阶段引导程序)将代码从外部 Flash 搬运到 PSRAM,再实现调试器连接。本文以 STM32N657X0H3Q 为例,详解基于 STM32CubeIDE 的 Attach 模式调试方案,无需复杂 GDB 命令,快速实现 PSRAM 上代码的单步调试、断点设置等功能。