顺应物联网/智能设备/SSD发展，爱德万测试有啥看家产品？

2017 年中国国际半导体展（SEMICON China）前不久在上海新国际博览中心举行，爱德万测试（Advantest）以“测量互联的世界”为主题，展示了针对为中国市场设计的最新测试解决方案和产品。与非网记者与爱德万测试（中国）管理有限公司的应用技术支持部经理胡佳明的交流中，详细了解了三款最新测试方案。

射频半导体产品测试方案——基于 V93000 平台的 Wave Scale 测试板卡

随着物联网行业的不断升温，射频芯片呈现两大发展趋势，一个是低成本的物联网芯片，表现为多协议（LTE-M，BT，WLAN……）、高产量、低价格；另一个则是高性能的移动芯片。顺应行业发展，爱德万测试日前在 V93000 平台上推出了 Wave Scale 系列测试板卡，可提高射频及混合信号集成电路测试时的并行性及产能。新款 V93000 Wave Scale RF 及 V93000 Wave Scale MX 测试板卡设计可实现高并行，多芯片同测及芯片内并行测试。

V93000 测试平台

Wave Scale RF 测试板卡

新款测试板卡也瞄准了射频及无线通讯市场领域，能够为 LTE，LTE-Advanced 和 LTE-A Pro 智能手机及 LTE-M，WLAN，GPS，ZigBee，蓝牙及物联网应用等半导体芯片提供高效的测试解决方案。

从特性上来讲，Wave Scale RF 及相应的 Wave Scale MX 测试板卡能在一个射频芯片内同时对多种标准或者多个路径进行测试，通过高效的芯片内并行及高同测效率的多芯片并行，能显著地降低这些复杂射频器件的测试成本。

Wave Scale MX 测试板卡

正如爱德万测试 SoC 高级副总裁 Hans-Juergen Wagner 所说：“Wave Scale 能够使我们的客户跟上未来半导体芯片上发生的快速技术变革的脚步，采用 Wave Scale 可使当前和下一代芯片的测试变得更加高效，具有更好的成本优势，并能缩短产品进入市场的时间。”

具体量产方面，第一批 Wave Scale 板卡已经在一家中国的半导体设计公司安装，用于测试现有 LTE Category 6 标准的芯片，同时为未来更高级的 LTE-Advanced Category 10 和 Category 16 通信集成电路开发测试协议。爱德万测试现在开始接收 Wave Scale RF 和 Wave Scale MX 测试板卡的订单，预计于今年第三季度开始批量出货。

智能设备测试——AV164 复合多用模拟测试板卡

在物联网市场的推动下，智能设备对测试市场带来了以下几大需求：1，继续高度集成传感器+计算单元+通讯模块+电源模块；2，车载电源管理驱动设备需要高压测试；3，移动设备需要高精度测试标准来延长电池寿命；4，多种产品混合催生不同各种测试需求。

爱德万测试最新发布的 AVI64 通用模拟测试通道，使得 V93000 测试平台具备了测试高阶 SoC 装置需要的功能。整合的设计让机台可使用较少的板卡，执行更多测试作业。这种设计的优势就是提升可扩展性及灵活性、并可简化测试公板的复杂度，以及提高并行同测的执行效率，并且降低测试成本。

AV164 复合多用模拟测试板卡

爱德万测试 SoC 产品事业资深副总裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“在进一步提升模拟及电源装置的进阶测试功能后，V93000 单一可扩充平台的测试范围将可囊括从低管脚数 IC 到复杂且高度整合的 SoC（系统芯片）。”他指出：“由整合电源／模拟测试功能至完整 SoC 的测试，我们达成了领先业界的强大功能，并更有能力应对从智慧家庭到智能城市，等诸多物联网应用的全面崛起。”

多协议 SSD 测试——MPT3000

根据市场研究与咨询机构 Gartner 的预估，SSD 市场规模将在 2019 年成长至超过 3 亿个。在不断成长和进化的固态硬盘市场，测试设备厂商需要满足三大市场需求：1，协议的转换：从 SATA 到 SAS 12G 以及 PCle；2，快速增长的固态硬盘市场及低成本化要求；3，支持多样化的物理尺寸来迎合新的市场应用需求。

对此爱德万测试推出的 MPT3000HVM 系统为 SSD 制造商提供了适用于各种 SSD 协议与规格的单一平台，此系统与 MPT3000 系列的其他产品一样，测试范围涵盖采用各大主要协议的 SSD，包括 SAS 12G、SATA 6G 与 PCIe（采用 NVMe 或 AHCI 架构）。此外 MPT3000HVM 采用可更换的测试接口板，可测试各式规格，包括 U.2、M.2 与 AIC 卡，有鉴于此，不同 SSD 产品的生产线整备与转换时间（change-over time）只需几分钟。

支持多协议的固态硬盘测试

爱德万测试系统级测试部门副总裁 Colin Ritchie 表示：“爱德万测试 MPT3000HVM 系统的推出，为 SSD 大量测试带来更高等级的创新方案，此单一系统解决方案的设计初衷，是为了协助 SSD 制造商提高生产力与盈利能力。”

随着物联网产品种类和数量的增加以及 5G 通信技术的快速发展，产品的测试需求也在不断增加，中国半导体市场在政策与大环境下也在飞速发展。爱德万测试在中国市场的布局也在紧锣密鼓地进行，继德国、日本、美国之后，爱德万测试又在中国上海设置了研发中心，负责部分测试软件开发。在高速发展的半导体测试领域与中国市场，爱德万测试的表现还是很令人期待的。

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