一站式定制芯片及IP供应商——灿芯半导体日前宣布推出高精度16位逐次逼近型(16bit SAR)ADC。该IP首个测试芯片基于中芯国际55nm工艺流片成功,现已完成EVB测试,可提供给客户进行评估。

 

该IP采样率为1MHz, ENOB(有效位)可达14bit,通常情况下其DNL(微分线性误差)介于-0.4LSB至0.47LSB之间,INL(积分线性误差)居于-1.8LSB至2.2LSB之间,其典型功耗是4.25mA,性能指标处于国内领先水平。

 

灿芯半导体深耕高精度12/14/16 bit SAR ADC及高速(>150M) PIPELINE ADC,为工业级高精度应用提供了更丰富的选择。基于SAR ADC技术的定制芯片累计出货已近3000万颗,可广泛应用于工业控制、能源及AIoT等领域。

 

 “16bit高精度SAR ADC的发布,对灿芯半导体而言,是技术层面上的又一次突破,” 灿芯半导体工程副总裁刘亚东表示,“另外,灿芯半导体还不断拓展创新,将这个技术实施到SMIC 40nm工艺,同时不断迭代优化,减少面积功耗,提升采样速率,力争满足客户的多层次需求。”